[发明专利]基带芯片性能评估方法及装置

摘要

本发明提供的基带芯片性能评估方法及装置，通过获取处于移动状态的基带芯片在预设模式下输出的各时刻的第一定位信息和第一测速信息，以及处于移动状态的测试设备输出的各时刻的第二定位信息和第二测速信息，得到基带芯片在各时刻的动态定位误差以及测速误差，确定有效动态定位误差以及有效测速误差，并根据各有效动态定位误差获取动态定位精度，根据各有效测速误差获取测速精度。通过上述方法获取到的动态定位精度以及测速精度，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。

主权项

1.一种基带芯片性能评估方法，其特征在于，所述方法包括：基带芯片处于移动状态时，获取基带芯片在预设模式下输出的各时刻的第一定位信息和第一测速信息，以及测试设备输出的各时刻的第二定位信息和第二测速信息；根据所述第一定位信息和所述第二定位信息获取动态定位误差，以及根据所述第一测速信息和所述第二测速信息获取测速误差；确定有效动态定位误差，以及与有效动态定位误差属于同一时刻的有效测速误差，其中，所述有效动态定位误差为位于预设动态定位误差范围内的误差；根据各所述有效动态定位误差获取动态定位精度，并根据各所述有效测速误差获取测速精度。