[发明专利]基带芯片性能评估方法及装置

说明书

本发明提供的基带芯片性能评估方法及装置，通过获取处于移动状态的基带芯片在预设模式下输出的各时刻的第一定位信息和第一测速信息，以及处于移动状态的测试设备输出的各时刻的第二定位信息和第二测速信息，得到基带芯片在各时刻的动态定位误差以及测速误差，确定有效动态定位误差以及有效测速误差，并根据各有效动态定位误差获取动态定位精度，根据各有效测速误差获取测速精度。通过上述方法获取到的动态定位精度以及测速精度，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种基带芯片性能评估方法及装置。

背景技术

由于航海环境的特殊性，船载的导航设备相对普通环境下的导航设备，在可靠性、防震、防潮、防高温及防光直射等方面有更高的要求，因此，船载设备都需要经过统一、严格的测试，采用统一的评估标准，性能达到要求的船载设备方可安装上船。

船载导航设备的主要组成部分为基带芯片，受外界环境的变化，基带芯片的定位精度和授时精度也会产生变化。在实际的应用过程中，需要基带芯片在不同环境下的定位精度和授时精度达到一定要求，因此，在基带芯片使用前需要对其动静态定位性能以及时钟同步性能进行综合评估，以确保安装上船的基带芯片的各项性能的稳定性。因此，亟待制定对基带芯片性能的评估方法，确保利用该评估方法选择的基带芯片各项性能的稳定性。

发明内容

本发明提供一种基带芯片性能评估方法及装置，确保利用该评估方法选择的基带芯片各项性能稳定，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。

本发明的第一方面提供一种基带芯片性能评估方法，所述方法包括：

基带芯片处于移动状态时，获取基带芯片在预设模式下输出的各时刻的第一定位信息和第一测速信息，以及测试设备输出的各时刻的第二定位信息和第二测速信息；

根据所述第一定位信息和所述第二定位信息获取动态定位误差，以及根据所述第一测速信息和所述第二测速信息获取测速误差；

确定有效动态定位误差，以及与有效动态定位误差属于同一时刻的有效测速误差，其中，所述有效动态定位误差为位于预设动态定位误差范围内的误差；

根据各所述有效动态定位误差获取动态定位精度，并根据各所述有效测速误差获取测速精度。

可选的，所述获取基带芯片在预设模式下输出的各时刻的第一定位信息和第一测速信息，以及测试设备输出的各时刻的第二定位信息和第二测速信息，包括：

获取基带芯片在监测北斗系统模式下输出的各时刻的第一定位信息和第一测速信息，以及测试设备在监测北斗系统模式下输出的各时刻的第二定位信息和第二测速信息。

可选的，所述获取基带芯片在预设模式下输出的各时刻的第一定位信息和第一测速信息，以及测试设备输出的各时刻的第二定位信息和第二测速信息，包括：

获取基带芯片在监测北斗系统和GPS系统模式下输出的各时刻的第一定位信息和第一测速信息，以及测试设备在监测北斗系统和GPS系统模式下输出的各时刻的第二定位信息和第二测速信息。

可选的，所述根据各所述有效动态定位误差获取动态定位精度，并根据各所述有效测速误差获取测速精度，包括：

根据各所述有效动态定位误差获取平均动态定位误差，根据所述平均动态定位误差和各所述有效动态定位误差获取所述有效动态定位误差的均方根值，将所述有效动态定位误差的均方根值作为所述基带芯片的定位精度；

并根据各所述有效测速误差获取平均测速误差，根据所述平均测速误差和各所述有效测速误差获取所述有效测速误差的均方根值，将所述有效测速误差的均方根值作为所述基带芯片的测速精度。

可选的，所述方法还包括：

获取所述有效动态定位误差在所述动态定位误差的占比；