[发明专利]半导体存储器结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810326724.3 申请日: 2018-04-12
公开(公告)号: CN109962074A 公开(公告)日: 2019-07-02
发明(设计)人: 廖伟明 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: H01L27/11568 分类号: H01L27/11568
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 黄艳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 本公开提供一种半导体存储器结构及其制备方法。该半导体存储器结构包括一基底、多个第一沟渠,设置在该基底中、多个第二沟渠,设置在基底中且与所述第一沟渠间隔开、多条埋入式数字线,设置在第一沟渠中,以及多条埋入式字元线,设置在第二沟渠中。所述第一沟渠包括一第一深度,所述第二沟渠包括一第二深度。所述第二沟渠的该第二深度大于所述第一沟渠的该第一深度。所述埋入式字元线的顶表面低于所述埋入式数字线的底表面。
搜索关键词: 沟渠 半导体存储器结构 基底 埋入式字元线 埋入式 数字线 制备 顶表面
【主权项】:
1.一种半导体存储器结构,包括:一基底;多个第一沟渠,设置在该基底上,所述第一沟渠包括一第一深度;多个第二沟渠,设置在该基底上,且与所述第一沟渠间隔开,其中所述第二沟渠包括一第二深度,且该第二深度大于该第一深度;多条埋入式数字线,设置在所述第一沟渠中;以及多条埋入式字元线,设置在所述第二沟渠中;其中所述埋入式字元线的顶表面低于所述埋入式数字线的底表面。
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