[发明专利]测量FGK型恒星金属丰度的方法及滤光片V有效
| 申请号： | 201810162482.9 | 申请日： | 2018-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN108469418B | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 范舟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家天文台 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G06T5/50 |
| 代理公司： | 11401 北京金智普华知识产权代理有限公司 | 代理人： | 巴晓艳 |
| 地址： | 100024 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及天文测量领域，提供了一种测量FGK型恒星金属丰度的方法及滤光片v | ||
| 搜索关键词： | 恒星 丰度 金属 测量 滤光片 拟合 观测 滤光片带宽 大气消光 恒星观测 流量标准 天文测量 吸收谱线 有效测量 准确测量 数据处理 大样本 可测量 测光 定标 滤光 视场 覆盖 吸收 统计 | ||
【主权项】：
1.一种测量FGK型恒星金属丰度的方法，其特征在于，包括如下步骤：/n步骤一、对待测FGK型恒星进行观测和数据处理；对待测FGK型恒星进行观测时，采用对FGK型恒星金属丰度进行有效测量的滤光片v
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