[发明专利]测量FGK型恒星金属丰度的方法及滤光片V有效

专利信息
申请号: 201810162482.9 申请日: 2018-02-27
公开(公告)号: CN108469418B 公开(公告)日: 2020-01-10
发明(设计)人: 范舟 申请(专利权)人: 中国科学院国家天文台
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G06T5/50
代理公司: 11401 北京金智普华知识产权代理有限公司 代理人: 巴晓艳
地址: 100024 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 恒星 丰度 金属 测量 滤光片 拟合 观测 滤光片带宽 大气消光 恒星观测 流量标准 天文测量 吸收谱线 有效测量 准确测量 数据处理 大样本 可测量 测光 定标 滤光 视场 覆盖 吸收 统计
【说明书】:

发明涉及天文测量领域,提供了一种测量FGK型恒星金属丰度的方法及滤光片vSAGE,该滤光片中心波长位于395nm,滤光片带宽29nm,可覆盖CaII H&K吸收线,准确测量该吸收谱线,对恒星金属丰度进行有效测量。测量方法包括:对待测FGK型恒星、流量标准星进行观测和数据处理;拟合大气消光曲线并对待测恒星进行流量定标;对“(vSAGE‑g)‑(g‑i)颜色~金属丰度关系[Fe/H]”拟合;通过测光方法求待测恒星的金属丰度。本发明对FGK型恒星观测效率高,金属丰度测量方法简单,一次可测量观测视场中所有FGK型恒星的金属丰度,和传统方法相比速度快,且无选择效应,适合大样本恒星金属丰度测量和统计。

技术领域

本发明涉及天文测量技术领域,具体涉及一种测量FGK型恒星金属丰度的方法及滤光片vSAGE

背景技术

FGK型恒星金属丰度的测量有很多方法,传统的是利用光谱的观测,测量Fe线的强度,并假设局部热动平衡LTE进行计算,也可以根据一些其它对金属丰度比较敏感的谱线测量,如CaII H&K线(393.4/396.8nm),CaII的三重线(849.8/854.2/866.2nm)等吸收线进行测量。但是对于光谱观测,需要耗费较多的观测时间,而传统的测光系统如Johnson-CousinUBVRI和SDSS ugriz因为带宽太宽,对于谱线并不敏感。

发明内容

本发明的目的就是克服现有技术的不足,提供了一种测量FGK型恒星金属丰度的方法及滤光片vSAGE,该滤光片为特殊设计的vSAGE波段滤光片,通过该滤光片可准确反映FGK型恒星的金属丰度。

本发明通过如下技术方案实现:

一种有效测量FGK型恒星金属丰度的滤光片vSAGE,该滤光片vSAGE中心波长位于395nm,滤光片带宽29nm,能很好覆盖CaII H&K吸收谱线,测量该吸收谱线,该吸收谱线的等值宽度和恒星的金属丰度有很好的相关性,通过测量该谱线的强度从而对恒星的金属丰度进行有效测量,确定所述FGK型恒星的金属丰度。

一种测量FGK型恒星金属丰度的方法,包括如下步骤:

步骤一、对待测FGK型恒星进行观测和数据处理;

步骤二、对流量标准星进行观测和处理;

步骤三、拟合大气消光曲线并对待测恒星进行流量定标;

步骤四、对“(vSAGE-g)-(g-i)颜色~金属丰度关系[Fe/H]”进行拟合;

步骤五、通过测光方法求出待测恒星的金属丰度。

进一步的,步骤一具体包括:

步骤1.1)获取望远镜的本底图像、多波段的平场图像、暗场图像;所述多波段为vSAGE/g/i 波段;

步骤1.2)利用望远镜对待测FGK型恒星进行观测,观测时使用vSAGE波段滤光片以及g/i 波段滤光片分别进行观测;控制曝光时间,实时检查星像的点扩散函数PSF轮廓,保障其不拉长、不出现虚焦;

步骤1.3)合并本底图像,对所有待测FGK型恒星的观测图像进行本底改正,消除探测器及光电观测设备的偏置电压及不均匀性影响;对于观测的待测恒星图像,要减去合并好的当晚的本底图像;

步骤1.4)进行暗场改正,消除探测器上暗电流的影响;

步骤1.5)进行平场改正,消除光学系统照明和CCD探测器像素响应差异的影响;

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