[发明专利]一种GaN基增强型场效应器件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201810035319.6 申请日: 2018-01-15
公开(公告)号: CN108258035B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 刘洪刚;黄凯亮;常虎东 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/47;H01L29/49;H01L29/778;H01L21/335;H01L21/28
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李婷婷;王宝筠
地址: 100029 北京市朝阳*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请提供一种GaN基增强型场效应器件及其制作方法,GaN基增强型场效应器件,包括有源区和围绕有源区的隔离区,有源区包括单晶衬底、缓冲层、沟道层、势垒层、界面控制层、源金属电极、漏金属电极、栅金属电极以及介质钝化层,有源区还包括:P型二维材料栅极;本申请中在栅金属电极下方插入一层P型二维材料栅极,从而有效耗尽栅极下方沟道中的二维电子气,实现增强型氮化镓场效应器件。由于P型二维材料具有空穴浓度高、晶格匹配且界面态低、能够从氮化镓材料表面选择性去除、工艺可控性好等一系列优点,使得制作得到的GaN基增强型场效应器件的阈值一致性好,电流崩塌导致的可靠性问题得到很好的抑制。
搜索关键词: 一种 gan 增强 场效应 器件 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种GaN基增强型场效应器件,包括:有源区和围绕所述有源区的隔离区,所述有源区包括单晶衬底、缓冲层、沟道层、势垒层、界面控制层、源金属电极、漏金属电极、栅金属电极以及介质钝化层,其特征在于,所述有源区还包括:P型二维材料栅极;所述缓冲层、所述沟道层、所述势垒层、所述界面控制层沿背离所述单晶衬底的方向,依次形成在所述单晶衬底之上;所述源金属电极和所述漏金属电极位于所述界面控制层上,且穿透所述界面控制层与所述势垒层欧姆接触;所述P型二维材料栅极位于所述界面控制层上;所述栅金属电极位于所述P型二维材料栅极上,且与所述P型二维材料栅极形成肖特基接触;所述介质钝化层位于所述栅金属电极和所述漏金属电极之间的所述界面控制层上,以及位于所述栅金属电极和所述源金属电极之间的所述界面控制层上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810035319.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top