[发明专利]用于运行材料的管路中的污染物的探测在审

专利信息
申请号: 201780076750.9 申请日: 2017-10-18
公开(公告)号: CN110088602A 公开(公告)日: 2019-08-02
发明(设计)人: M·克恩;R·屈纳;A·屈布勒;R·黑贝勒 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G01N21/85 分类号: G01N21/85;G01N33/22;G01N33/28;G01M3/02;G01M3/20;G01M3/38;G01N21/03;G01N21/27
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 侯鸣慧
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于探测运行材料(2)中的污染物(3)的方法(100),所述运行材料在机器或者设备(1)中在管路中被引导,其中,用探测光(22)透射(130)在所述管路内的至少一个光学测量位置(15),所述探测光包括至少一种波长,对于所述波长而言,所述运行材料(2)的吸收系数不同于所述污染物(3)的吸收系数,并且其中,测量(140)所述探测光(22)在所述运行材料(2)中的光学吸收量A,其中,附加地确定(120)所述运行材料(2)在所述光学测量位置(15)处的温度T。一种用于执行根据权利要求1至9中任一项所述的方法(100)的装置(20),所述装置包括用于所述探测光(22)的至少一个光源(21)和至少一个探测器(23),其中,附加地设置至少一个能够集成到用于所述运行材料(2)的管路中的、能够被所述探测光(22)透射的通流式吸收池(24),在所述运行材料(2)的流动方向上在所述通流式吸收池之前连接有温度传感器(25),和/或,加热和/或冷却元件(26)。
搜索关键词: 探测光 污染物 光学测量 吸收系数 吸收池 波长 透射 通流 探测 温度传感器 光学吸收 冷却元件 探测器 光源 加热 测量 流动
【主权项】:
1.一种用于探测运行材料(2)中的污染物(3)的方法(100),所述运行材料在机器或者设备(1)中在管路中被引导,其中,用探测光(22)透射(130)在所述管路内的至少一个光学测量位置(15),所述探测光包括至少一个波长,对于该波长而言,所述运行材料(2)的吸收系数不同于所述污染物(3)的吸收系数,并且其中,测量(140)所述探测光(22)在所述运行材料(2)中的光学吸收量A,其特征在于,附加地确定(120)所述运行材料(2)在所述光学测量位置(15)处的温度T。
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