[发明专利]动态可靠性质量监测

摘要

描述了一种用于管理半导体芯片内的操作模式以在满足可靠性目标的同时实现最佳功率和性能的系统和方法。一种半导体芯片包括功能单元以及对应的可靠性监测器。所述功能单元向所述可靠性监测器提供实际使用值。所述可靠性监测器基于可靠性目标和所述半导体芯片的寿命而确定预期使用值。所述可靠性监测器将所述实际使用值与所述预期使用值进行比较。使用该比较的结果来增大或减小当前操作参数。

主权项

1.一种半导体芯片，所述半导体芯片包括：功能单元；监测器，所述监测器被配置为：监测所述功能单元的实际使用；将所述功能单元的所述实际使用与所述功能单元的预期使用进行比较，其中所述预期使用至少部分地基于所述功能单元的寿命；以及提供对应于所述比较的信息；功率管理器，所述功率管理器被配置为：响应于所述信息而更新所述功能单元的操作参数以改变所述功能单元的功耗；以及将所述更新的操作参数发送到所述功能单元。