[发明专利]利用光刻胶凹刻图案及表面改性的金属网类型透明导电膜制造方法及由此制造而成的透明导电膜在审
申请号: | 201780039144.X | 申请日: | 2017-08-03 |
公开(公告)号: | CN109417023A | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
发明(设计)人: | 李锡宰 | 申请(专利权)人: | 海安科技株式会社 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;H01L21/285;H01L21/288;H01L21/02;G03F7/20;H01L31/18 |
代理公司: | 北京金宏来专利代理事务所(特殊普通合伙) 11641 | 代理人: | 许振强;杜正国 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明涉及利用光刻胶凹刻图案及表面改性的金属网类型透明导电膜制造方法,包括:S1:在基板(10)的上面或基板(10)的上面及下面形成光刻胶层(20)的步骤;S2:在上述光刻胶层(20)上形成以网状排列有浮刻部(21)和凹刻部(22)的凹刻图案部的步骤;S3:在上述光刻胶层(20)的凹刻图案部上沉积第一金属膜导电层(40),或在完成沉积的基板上的上述第一金属膜导电层(40)上,通过镀层工艺生长第二金属膜导电层(50)的步骤;S4:对完成沉积或镀层的上述基板的表面,利用干冰粉末进行表面改性的步骤;及S5:去除上述光刻胶层(20)的浮刻部(21)的步骤。避免在形成厚的金属膜导电层之后进行湿法蚀刻工艺,通过利用干冰的表面改性使脱离变得容易,从而改善工艺复杂性,减少不良率。另外,通过沉积于凹刻部内部的上部及下部低反射层大幅减少可见性,在下部起到粘接层的作用,而在上部起到保护层的作用,从而可提供具有高可靠性的透明导电膜。 | ||
搜索关键词: | 透明导电膜 凹刻图案 表面改性 光刻胶层 导电层 金属膜 基板 沉积 光刻胶 金属网 凹刻 制造 工艺复杂性 低反射层 镀层工艺 干冰粉末 高可靠性 湿法蚀刻 网状排列 保护层 不良率 可见性 粘接层 镀层 干冰 去除 生长 脱离 | ||
【主权项】:
1.一种金属网类型透明导电膜的制造方法,其特征在于,包括:S1:在基板(10)的上面或基板(10)的上面及下面形成光刻胶层(20)的步骤;S2:在上述光刻胶层(20)上形成以网状排列有浮刻部(21)和凹刻部(22)的凹刻图案部的步骤;S3:在上述光刻胶层(20)的凹刻图案部上沉积第一金属膜导电层(40),或在完成沉积的基板上的上述第一金属膜导电层(40)上,通过镀层工艺生长第二金属膜导电层(50)的步骤;S4:对完成沉积或镀层的上述基板的表面,利用干冰粉末进行表面改性的步骤;及S5:去除上述光刻胶层(20)的浮刻部(21)的步骤。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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