[实用新型]单芯片的测试装置有效
| 申请号： | 201721825904.3 | 申请日： | 2017-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN207764347U | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | 邬江;张楠赓 | 申请（专利权）人： | 北京嘉楠捷思信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种单芯片的测试装置，包括：芯片座，适用于不同的待测芯片，用于放置单个待测芯片；电源模块，与芯片座相连，用于为所述芯片座供电；以及信号转换与测试模块，用于改变所述电源模块供电引脚的电平，使得所述电源模块的输出电压由一通用电压转换成各待测芯片的工作电压范围，并对各待测芯片进行测试，输出各待测芯片的测试结果。在测试不同工作电压范围的待测芯片时，只需通过信号转换与测试模块改变电源模块供电引脚的电平，从而调整电源模块的输出电压，操作简单。此外，信号转换与测试模块还兼具了测试待测芯片的功能，使得该测试装置的结构更简洁。 | ||
| 搜索关键词： | 待测芯片 电源模块 测试模块 测试装置 信号转换 芯片座 工作电压 供电引脚 输出电压 单芯片 测试 本实用新型 通用电压 供电 输出 转换 | ||
【主权项】：
1.一种单芯片的测试装置，包括：芯片座，适用于不同类型的待测芯片，其用于放置单个待测芯片；电源模块，与所述芯片座相连，其用于为所述芯片座供电；以及信号转换与测试模块，与所述电源模块和芯片座相连，其用于改变所述电源模块供电引脚的电平，使得所述电源模块的输出电压由一通用电压转换成各待测芯片的工作电压范围，并对各待测芯片进行测试，输出各待测芯片的测试结果。
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