[实用新型]单芯片的测试装置

权利要求书

1.一种单芯片的测试装置，包括：

芯片座，适用于不同类型的待测芯片，其用于放置单个待测芯片；

电源模块，与所述芯片座相连，其用于为所述芯片座供电；以及

信号转换与测试模块，与所述电源模块和芯片座相连，其用于改变所述电源模块供电引脚的电平，使得所述电源模块的输出电压由一通用电压转换成各待测芯片的工作电压范围，并对各待测芯片进行测试，输出各待测芯片的测试结果。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述信号转换与测试模块包括：

FPGA芯片，其用于改变自身的输入输出管脚的电平，从而改变所述电源模块供电引脚的电平。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其中，信号转换与测试模块还包括：

指示灯，其用于指示所述待测芯片的工作状态；以及

显示单元，其用于显示所述待测芯片的测试结果。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其中，所述指示灯为双色发光二极管，当其为绿色时，指示当前待测芯片测试通过；当其为红色时，指示当前待测芯片测试不通过。

5.根据权利要求3或4所述的测试装置，其中，所述信号转换与测试模块还用于根据所述指示灯与显示单元，对所述待测芯片进行精度调试，确定待测芯片的以下任一项或者多项指标：

最佳工作电压、最佳工作电流、最佳工作频率、最佳工作效率、最大工作电压、最大工作电流、最大工作频率和最大工作效率。

6.根据权利要求3所述的测试装置，其中，所述信号转换与测试模块还包括：

内存单元，其用于烧录各待测芯片的测试程序以及在线调试所述测试程序。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述电源模块包括：

过流保护电路，其用于在电源模块的工作电流大于其额定电流时关闭所述电源模块。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述芯片座为Socket测试座。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述测试结果包括以下测试方式的一种或者多种的测试结果：

直流电压测试、直流电流测试、频率测试和功能模式测试。

10.根据权利要求1所述的测试装置，还包括：

分类模块，与所述信号转换与测试模块相连，其用于将在同一工作电压范围通过测试的待测芯片分为一类。