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- [发明专利]芯片测试座-CN201410154263.8在审
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王锐;夏群
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成都先进功率半导体股份有限公司
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2014-04-16
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2014-07-16
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G01R1/04
- 本发明公开了一种芯片测试座，包括基座，所述基座下表面设置至少一对用于连接晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具，所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接，所述第一拨码开关与所述芯片夹具电性连接，所述芯片夹具与所述第二拨码开关电性连接，所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。本发明的芯片测试座使得芯片测试操作简单，测试效率高。
- 芯片测试
- [发明专利]芯片接座-CN200810306515.9无效
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王海利
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鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
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2008-12-24
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2010-06-30
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H01R33/76
- 一种芯片接座，包括上部及下部，上部包括四个侧壁及一第一底板，四个侧壁与第一底板围成容置一第一芯片的第一收容部，下部包括四个侧壁及一第二底板，下部的四个侧壁与第二底板围成容置一第二芯片的第二收容部，上部侧壁内侧固设若干互相绝缘的第一导电金属片每一第一导电金属片的一端在第一收容部内形成一接触部，另一端延伸至第一底板外形成一插接部，下部侧壁内侧固设若干互相绝缘的第二导电金属片，每一第一导电金属片的插接部插于第二收容部内，并与一对应的第二导电金属片电连接，第一导电金属片用于与第一芯片的导电引脚对应电连接，第二导电金属片用于与第二芯片的导电引脚对应电连接。所述芯片接座可快速修复电脑芯片中损坏的程序。
- 芯片
- [实用新型]芯片测试座-CN202120939515.3有效
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张勇文;袁小云
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四川蕊源集成电路科技有限公司
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2021-05-06
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2021-06-08
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G01R1/04
- 本实用新型公开了一种芯片测试座，涉及芯片测试技术领域，它包括连接在测试电路板上的连接座、与连接座连接的固定座和安装座；固定座上设置有弹性件，安装座固定在弹性件上，且其上安装有芯片。连接座安装在测试电路板的正上方，固定座和安装座设置在连接座上，也位于测试电路板的正上方，向安装座施加向下的压力，安装座压缩弹性件，带动位于安装座上的芯片向靠近测试电路板的方向移动，使得芯片的引脚能够接触到测试电路板的对应触点测试电路板通电顺序就不需要严格固定，使用本测试座测试芯片时不会完全依赖于操作人员的经验，对于经验不足的操作人员，也会快速进入测试状态，相对提高测试芯片的速度，进而减少对测试效率的影响。
- 芯片测试
- [实用新型]芯片测试座-CN202222297907.1有效
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陈凯
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深圳市弘信网视数码科技有限公司
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2022-08-30
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2022-12-30
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G01R1/04
- 本实用新型实施例涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试座，芯片测试座包括：基座、芯片测试座本体、压盖组件和电机组件；所述芯片测试座本体安装在所述基座上；所述电机组件安装在所述基座上，所述压盖组件设置于所述基座上方并与所述电机组件连接；在所述电机组件驱动所述压盖组件沿垂直于芯片方向向下压盖时，使待测目标芯片的锡球与所述芯片测试座本体的测试针接触。通过上述方式，本实用新型实施例通过设置电机组件驱动压盖组件，能够实现压盖组件沿垂直于芯片方向向下压盖，满足压盖组件作用于所接触待测目标芯片面的受力均衡要求，避免了压盖组件和待测目标芯片相对接触面的斜切接触
- 芯片测试
- [实用新型]芯片烧录座-CN202222991422.2有效
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桂义勇
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苏州永创智能科技有限公司
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2022-11-10
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2023-05-23
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G01R31/28
- 本实用新型公开一种芯片烧录座，包括：安装有探针的本体，可伸缩的所述探针用于与待烧录芯片上的导电区域电导通，所述本体内设置有一腔体，所述本体上表面间隔开设有若干个与所述腔体连通的吸附气孔，所述本体上表面安装有一导向板，该导向板中央并位于吸附气孔上方开设有一供所述待烧录芯片嵌入的放置槽，所述放置槽四周侧壁的上部为向远离待烧录芯片方向倾斜的斜坡面。本实用新型可以提高芯片的位置精度，还可以大大降低芯片上外凸的导电区之间产生的气流扰动，避免芯片在受到吸附力瞬间产生的抖动，保证加工的精度和品质。
- 芯片烧录座
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