[实用新型]单芯片的测试装置

说明书

本实用新型提供了一种单芯片的测试装置，包括：芯片座，适用于不同的待测芯片，用于放置单个待测芯片；电源模块，与芯片座相连，用于为所述芯片座供电；以及信号转换与测试模块，用于改变所述电源模块供电引脚的电平，使得所述电源模块的输出电压由一通用电压转换成各待测芯片的工作电压范围，并对各待测芯片进行测试，输出各待测芯片的测试结果。在测试不同工作电压范围的待测芯片时，只需通过信号转换与测试模块改变电源模块供电引脚的电平，从而调整电源模块的输出电压，操作简单。此外，信号转换与测试模块还兼具了测试待测芯片的功能，使得该测试装置的结构更简洁。

技术领域

本实用新型涉及芯片验证领域，尤其涉及一种单芯片的测试装置。

背景技术

随着技术的发展，芯片的复杂度越来越高，芯片在出厂前虽然已经进行了很多测试，但在运输途中或者保存环境中也容易产生损坏的现象。然而当用户实际拿到芯片后却无法判断这个芯片是否能正常使用。如果贸然就用在电路上，容易导致后续测试发现问题，届时会更为麻烦，且费时费力费钱。

现有技术的芯片测试装置一般包括电源模块、控制模块和测试模块，通过控制模块改变电源模块的输出电压为测试模块供电，测试模块在该输出电压下，对待测芯片进行测试。如此，存在结构复杂的缺陷。

实用新型内容

(一)要解决的技术问题

本实用新型的目的在于提供一种单芯片的测试装置，以解决上述的至少一项技术问题。

(二)技术方案

本实用新型提供了一种单芯片的测试装置，包括：

芯片座，适用于不同类型的待测芯片，其用于放置单个待测芯片；

电源模块，与所述芯片座相连，其用于为所述芯片座供电；以及

信号转换与测试模块，与所述电源模块和芯片座相连，其用于改变所述电源模块供电引脚的电平，使得所述电源模块的输出电压由一通用电压转换成各待测芯片的工作电压范围，并对各待测芯片进行测试，输出各待测芯片的测试结果。

在本实用新型的一些实施例中，所述信号转换与测试模块包括：FPGA芯片，其用于改变自身的输入输出管脚的电平，从而改变所述电源模块供电引脚的电平。

在本实用新型的一些实施例中，信号转换与测试模块还包括：

指示灯，其用于指示所述待测芯片的工作状态；以及

显示单元，其用于显示所述待测芯片的测试结果。

在本实用新型的一些实施例中，所述指示灯为双色发光二极管，当其为绿色时，指示当前待测芯片测试通过；当其为红色时，指示当前待测芯片测试不通过。

在本实用新型的一些实施例中，所述信号转换与测试模块还用于根据所述指示灯与显示单元，对所述待测芯片进行精度调试，确定待测芯片的以下任一项或者多项指标：

最佳工作电压、最佳工作电流、最佳工作频率、最佳工作效率、最大工作电压、最大工作电流、最大工作频率和最大工作效率。

在本实用新型的一些实施例中，所述信号转换与测试模块还包括：内存单元，其用于烧录各待测芯片的测试程序以及在线调试所述测试程序。

在本实用新型的一些实施例中，所述电源模块包括：过流保护电路，其用于在电源模块的工作电流大于其额定电流时关闭所述电源模块。

在本实用新型的一些实施例中，所述芯片座为Socket测试座。

在本实用新型的一些实施例中，所述测试结果包括以下测试方式的一种或者多种的测试结果：

直流电压测试、直流电流测试、频率测试和功能模式测试。