[实用新型]半导体存储器有效
申请号: | 201720907614.7 | 申请日: | 2017-07-25 |
公开(公告)号: | CN207852646U | 公开(公告)日: | 2018-09-11 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 睿力集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242;H01L27/108 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 罗泳文 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型提供一种半导体存储器,包括:半导体衬底,形成有多个内存数组结构中的第一焊盘以及内存数组结构之外且位于所述第一焊盘外周的若干第二焊盘;双面电容器阵列,形成于所述第一焊盘上,所述双面电容器包括双U型的第一导电层及第二导电层、电容介质以及第三导电层;及支架筒,形成于所述第二焊盘上,所述支架筒包括无电性功能的虚置孔。本实用新型以多重图案方法以及边界工艺强化的支撑架结构,制造出六方阵列排布的双U型下电极的双面电容器,具有较大的高度与宽度比,可有效提高单位面积下的电容值。 | ||
搜索关键词: | 焊盘 电容器 半导体存储器 本实用新型 内存数组 支架筒 双U型 第二导电层 第一导电层 电容器阵列 支撑架结构 电容介质 多重图案 工艺强化 阵列排布 导电层 宽度比 下电极 性功能 电容 衬底 外周 无电 置孔 半导体 制造 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储器,其特征在于,包括:半导体衬底,所述衬底上形成有多个在内存数组结构中的第一焊盘以及排除在所述内存数组结构之外且位于所述第一焊盘外周的若干第二焊盘;双面电容器阵列,形成于所述第一焊盘上,所述双面电容器包括:第一导电层及第二导电层,所述第一导电层与所述第一焊盘接触,所述第一导电层的截面形状为第一U型结构,所述第二导电层的截面形状为第二U型结构,所述第二U型结构位于所述第一U型结构内侧;电容介质,覆盖于所述第一导电层及第二导电层内表面及外表面;及第三导电层,覆盖于所述电容介质外表面;及支架筒,形成于所述第二焊盘上,所述支架筒包括虚置孔以及在所述虚置孔内的U型截面且底部连接至所述第二焊盘的导电层,所述支架筒还包括在所述第一导电层与所述第二导电层之间的牺牲间隔层,所述牺牲间隔层的顶面为倾斜面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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