[实用新型]一种金线推拉力自动量测装置有效
| 申请号： | 201720659683.0 | 申请日： | 2017-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN207458893U | 公开（公告）日： | 2018-06-05 |
| 发明（设计）人： | 李小丽 | 申请（专利权）人： | 太极半导体（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;G01R31/26 |
| 代理公司： | 苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246 | 代理人： | 潘志渊 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市工*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型一种金线推拉力自动量测装置，涉及半导体封装测试结构领域领域，包括显示屏幕触控操作界面、CCD影像系统、推力测试机械臂、可移动平台和控制中心；所述CCD影像系统中的摄像头对可移动平台上的实物进行对位；所述显示屏幕触控操作界面通过数据线与所述控制中心相连；所述控制中心再对所述CCD影像系统进行远程控制；所述推力测试机械臂位于可移动平台的上方；所述控制中心通过电讯号控制所述推力测试机械臂和可移动平台。该金线推拉力自动量测装置通过CCD影像系统进行产品对位，控制系统自动进行数据检测，大大降低了失误率，提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 可移动平台 控制中心 推力测试 自动量测 机械臂 推拉力 金线 触控操作 显示屏幕 对位 半导体封装测试 本实用新型 摄像头 结构领域 控制系统 数据检测 讯号控制 远程控制 失误率 数据线 实物 检测 | ||
【主权项】：
一种金线推拉力自动量测装置，其特征在于：包括显示屏幕触控操作界面、CCD影像系统、推力测试机械臂、可移动平台和控制中心；所述CCD影像系统中的摄像头对可移动平台上的实物进行对位；所述显示屏幕触控操作界面通过数据线与所述控制中心相连；所述控制中心再对所述CCD影像系统进行远程控制；所述推力测试机械臂位于可移动平台的上方；所述控制中心通过电讯号控制所述推力测试机械臂和可移动平台。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
