[发明专利]一种玻璃钝化表贴封装瞬态电压抑制二极管的制造方法在审
申请号: | 201711450070.7 | 申请日: | 2017-12-27 |
公开(公告)号: | CN108172514A | 公开(公告)日: | 2018-06-15 |
发明(设计)人: | 古进;迟鸿燕;张丽;寿强亮;吴王进;黄玉恒 | 申请(专利权)人: | 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八三七厂) |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L21/56;H01L23/367;H01L23/373 |
代理公司: | 贵阳睿腾知识产权代理有限公司 52114 | 代理人: | 谷庆红 |
地址: | 550018 贵州省*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | 本发明涉及二极管技术领域,具体涉及一种玻璃钝化表贴封装瞬态电压抑制二极管的制造方法;包括以下步骤:将扩散蒸发金属化层的硅片通过裂片的方式获得规定尺寸的芯片;将电极引线与芯片之间通过焊料熔焊键合;将电极组件通过腐蚀、清洗、钝化后在产品表面涂覆钝化封装玻璃粉浆,链式高温下成型,完成封装成型;将轴向产品与电极片通过特制焊料在高温下进行焊接,切除引线后实现玻璃钝化表贴封装;本发明具有较宽的工作温度,能在极限温度下稳定工作,相同外形尺寸下可提升80%左右的瞬态功率,使产品在较小的封装尺寸下具有较大的瞬态功率,具有较高的市场推广价值。 1 | ||
搜索关键词: | 封装 玻璃钝化 表贴 瞬态电压抑制二极管 瞬态功率 钝化 芯片 焊料 二极管技术 产品表面 电极引线 电极组件 封装玻璃 封装成型 焊料熔焊 市场推广 蒸发金属 电极片 硅片 粉浆 化层 键合 链式 裂片 涂覆 轴向 焊接 成型 切除 制造 清洗 腐蚀 扩散 | ||
【主权项】:
1.一种玻璃钝化表贴封装瞬态电压抑制二极管的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将扩散蒸发金属化层的硅片通过裂片的方式获得规定尺寸的芯片;
(2)将电极引线与芯片之间通过焊料熔焊键合;
(3)将电极组件通过腐蚀、清洗、钝化后在产品表面涂覆钝化封装玻璃粉浆,链式高温下成型,完成封装成型;
(4)将轴向产品与电极片通过特制焊料在高温下进行焊接,切除引线后实现玻璃钝化表贴封装。
2.如权利要求1所述的玻璃钝化表贴封装瞬态电压抑制二极管的制造方法,其特征在于,所述的电极引线为钨。3.如权利要求1所述的玻璃钝化表贴封装瞬态电压抑制二极管的制造方法,其特征在于,所述的焊料为铝。4.如权利要求1所述的玻璃钝化表贴封装瞬态电压抑制二极管的制造方法,其特征在于,所述封装,采用贴片式封装。5.如权利要求1所述的玻璃钝化表贴封装瞬态电压抑制二极管的制造方法,其特征在于,所述瞬态电压抑制二极管,为U型表贴封装结构。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造