[发明专利]一种黑色矩阵的制作方法在审

专利信息
申请号: 201711448048.9 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN107991803A 公开(公告)日: 2018-05-04
发明(设计)人: 邱军辉;宋江江;沈顺杰 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/1335 分类号: G02F1/1335;G03F7/20;G03F9/00
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)44300 代理人: 黄威
地址: 430079 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种黑色矩阵的制作方法,包括如下步骤提供一基板,所述基板上设置有对位标记;在所述基板上涂覆一黑色矩阵薄膜;将涂覆有黑色矩阵薄膜的所述基板放入曝光机中,并对所述基板进行预对位,将所述标记装置移动到所述对位标记的上方,进行标记处理,得到光阻标记;根据所述光阻标记识别所述对位标记的位置,进行精确对位后,图案化所述黑色矩阵薄膜,形成黑色矩阵。本发明提供了一种黑色矩阵的制作方法,在对基板进行预对位之前,通过标记装置将对位标记上方的黑色光阻进行厚度薄化或去除,从而方便了所述对位标记的识别,进而提高了黑色矩阵的制作效率。
搜索关键词: 一种 黑色 矩阵 制作方法
【主权项】:
一种黑色矩阵的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S10、提供一基板,所述基板上设置有对位标记;步骤S20、在所述基板上涂覆一黑色矩阵薄膜,所述黑色矩阵薄膜由黑色光阻制备;步骤S30、将涂覆有所述黑色矩阵薄膜的所述基板放入曝光机中,并对所述基板进行预对位,然后将所述曝光机的标记装置移动到所述对位标记的上方,对所述对位标记上方所对应的黑色光阻进行标记处理,得到光阻标记;步骤S40、根据所述光阻标记识别所述对位标记的位置,进行精确对位后,图案化所述黑色矩阵薄膜,形成黑色矩阵。
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