[发明专利]一种黑色矩阵的制作方法在审
申请号: | 201711448048.9 | 申请日: | 2017-12-27 |
公开(公告)号: | CN107991803A | 公开(公告)日: | 2018-05-04 |
发明(设计)人: | 邱军辉;宋江江;沈顺杰 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/1335 | 分类号: | G02F1/1335;G03F7/20;G03F9/00 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 430079 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 黑色 矩阵 制作方法 | ||
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种黑色矩阵的制作方法。
背景技术
通常液晶显示面板由彩膜(CF,Color Filter)基板、薄膜晶体管(TFT,Thin Film Transistor)阵列基板、夹于彩膜基板与薄膜晶体管阵列基板之间的液晶(LC,Liquid Crystal)及密封胶框(Sealant)组成,其成型工艺一般包括:前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中,前段Array制程主要是形成TFT基板,以便于控制液晶分子的运动;中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶;后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合,进而驱动液晶分子转动,显示图像。
传统的液晶显示面板中,通常会在彩膜基板一侧制作一层黑色矩阵(BM,BlackMatrix),用于分割相邻色阻,遮挡色彩的空隙,防止漏光或者混色;而将黑色矩阵制备在TFT阵列基板的技术叫做BOA(BMOnArray,黑色矩阵贴附于阵列基板),BOA可以解决上下基板错位导致遮光区域不匹配的问题,这种对曲面显示器尤其有用。COA(Color filter OnArray)技术是一种将原本制备于彩膜基板上的RGB色阻制备在TFT阵列基板上的技术,COA技术可以改善金属线上的信号延迟,提供面板开口率,改善面板显示品质。
图1为在彩膜基板1上制作黑色矩阵后的示意图,如图1所示,黑色矩阵13为彩膜基板1的第一道制程,因此在黑色矩阵的制备过程中无需参考前制程的对位标记(mark)。而在BOA架构的液晶显示面板中,由于黑色矩阵制作于TFT阵列基板一侧,在制备黑色矩阵之前,已经进行了其它图案的制程,因此在制备黑色矩阵时需要参考前制程的对位标记,但由于黑色矩阵具有较高的光密度值(OD,optical density),因此在涂布后对光罩对位标记的识别造成干扰,可能导致曝光机无法对位。如果要使用较低光密度值的黑色阵材料,可以增加涂布后对位标记的识别能力,但是黑色矩阵的遮光效果会受到严重影响。
图2为在TFT阵列基板21上涂布黑色矩阵薄膜23后的示意图,从图2中可以看出,在TFT阵列基板21上涂布黑色矩阵薄膜23后,所述黑色矩阵薄膜23将对位标记22完全遮挡。因此目前亟需一种能够解决上述问题的黑色矩阵的制作方法。
发明内容
本发明提供了一种黑色矩阵的制作方法,以解决在黑色矩阵制备过程中基板的对位标记难以识别的问题。
为实现上述目的,本发明提供的技术方案如下:
本发明提供了一种一种黑色矩阵的制作方法,包括如下步骤:
步骤S10、提供一基板,所述基板上设置有对位标记;
步骤S20、在所述基板上涂覆一黑色矩阵薄膜,所述黑色矩阵薄膜由黑色光阻制备;
步骤S30、将涂覆有所述黑色矩阵薄膜的所述基板放入曝光机中,并对所述基板进行预对位,然后将所述曝光机的标记装置移动到所述对位标记的上方,对所述对位标记上方所对应的黑色光阻进行标记处理,得到光阻标记;
步骤S40、根据所述光阻标记识别所述对位标记的位置,进行精确对位后,图案化所述黑色矩阵薄膜,形成黑色矩阵。
根据本发明一优选实施例,所述标记装置为具有预定照度的镭射头。
根据本发明一优选实施例,所述步骤30包括:将所述镭射头移动到所述对位标记的上方,对所述对位标记上方所对应的黑色光阻进行照射,将所述对位标记上方所对应的黑色光阻进行厚度薄化或去除,获得光阻标记。
根据本发明一优选实施例,所述基板为矩形结构,所述对位标记分为四组对位标记,分别设置于所述矩形的四个角。
根据本发明一优选实施例,每一组对位标记包括至少一个对位标记主体,所述对位标记主体的边长处于60微米至140微米的范围内。
根据本发明一优选实施例,所述高照度镭射头在所述黑色光阻上的投射光斑直径为150微米至200微米。
根据本发明一优选实施例,所述高照度镭射头的照度为105至106兆瓦每平方厘米。
根据本发明一优选实施例,所述步骤S30中,对所述基板进行预对位为:将所述基板与所述曝光机的光掩模版进行预对位,对位精度为±30微米。
根据本发明一优选实施例,所述步骤S30中,在对所述基板进行预对位前,还包括对所述基板的放置环境进行吸真空处理。
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