[发明专利]图像Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质

摘要

本发明公开了一种图像Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质，该方法包括步骤：当获取到液晶显示器LCD的待检测图像后，对待检测图像的第一像素点和距离第一像素点预设范围内的第二像素点进行滤波处理，得到处理后第一像素点的第一像素值；根据第一像素值计算第一像素点的多尺度视差值；计算第一像素点的亮度均值；根据多尺度视差值和亮度均值计算出第一像素点的多尺度可觉视差，根据多尺度可觉视差评估第一像素点的Mura缺陷。本发明克服了人工的检测图像Mura缺陷的弊端，使最终所得的Mura缺陷不带有人为主观认定因素，提高了获取图像Mura缺陷的准确率，以及提高了检测图像Mura缺陷的检测效率。

主权项

一种图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述图像Mura缺陷评估方法包括以下步骤：当获取到液晶显示器LCD的待检测图像后，对所述待检测图像的第一像素点和距离所述第一像素点预设范围内的第二像素点进行滤波处理，得到处理后的所述第一像素点的第一像素值；根据所述第一像素值计算所述第一像素点的多尺度视差值；计算所述第一像素点的亮度均值；根据所述多尺度视差值和所述亮度均值计算出所述第一像素点的多尺度可觉视差，根据所述多尺度可觉视差评估所述第一像素点的斑Mura缺陷。