[发明专利]图像Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质

说明书

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种图像Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质。

背景技术

随着LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)技术的发展，LCD行业的未来和发展越来越受到人们的重视。Mura(斑)是LCD中常见的视觉缺陷，通常表现为低对比度、非均匀亮度区域、边缘模糊等，会给用户造成视觉上的不适感。同时Mura缺陷也是视觉缺陷中最为复杂和最难检测的，Mura缺陷包括点状Mura、线状Mura和块状Mura。目前行业内通常采用经过专业训练的检测人员根据限度样本用人眼比对的方法进行检测，然而这种检测方法不可避免地引入人为主观认定等因素，所得的检测结果准确率低，且检测效率低下。

随着技术的发展，研究人员开始利用机器视觉来代替人眼检测，使用高精度的相机在满足一定条件下拍摄LCD的图像，再使用相应的算法来检测图像中Mura缺陷，从而找到LCD上对应的缺陷。但在检测过程中如何高准确率获取Mura缺陷一直是行业内公认的难题之一，因此，急需一种可以高准确率评估Mura缺陷的方法。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种图像Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质，旨在解决现有图像Mura缺陷评估结果准确率低和检测效率低下的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种图像Mura缺陷评估方法，所述图像Mura缺陷评估方法包括步骤：

当获取到液晶显示器LCD的待检测图像后，对所述待检测图像的第一像素点和距离所述第一像素点预设范围内的第二像素点进行滤波处理，得到处理后的所述第一像素点的第一像素值；

根据所述第一像素值计算所述第一像素点的多尺度视差值；

计算所述第一像素点的亮度均值；

根据所述多尺度视差值和所述亮度均值计算出所述第一像素点的多尺度可觉视差，根据所述多尺度可觉视差评估所述第一像素点的斑Mura缺陷。

优选地，所述根据所述多尺度可觉视差评估所述第一像素点的Mura缺陷的步骤之后，还包括：

采用形态学滤波对所述待检测图像执行腐蚀操作和膨胀操作，以得到所述待检测图像中完整的所述Mura缺陷。

优选地，所述根据所述多尺度可觉视差评估所述第一像素点的Mura缺陷的步骤之后，还包括：

计算所述Mura缺陷的面积，根据所述面积和所述多尺度可觉视差评估所述Mura缺陷的严重程度。

优选地，所述当获取到液晶显示器LCD的待检测图像后，对所述待检测图像的第一像素点和距离所述第一像素点预设范围内的第二像素点进行滤波处理，得到处理后的所述第一像素值的步骤包括：

当获取到LCD的待检测图像后，确定所述待检测图像中的第一像素点，以及距第一像素点预设范围内第二像素点；

根据所述第一像素点的第一像素值和所述第二像素点对应的第二像素值计算所述第二像素点的归一化权值；

根据所述第一像素值和所述归一化权值计算所述第一像素点经过处理后的第一像素值。

优选地，所述计算所述第一像素点的亮度均值的步骤包括：

根据核多项式拟合算法计算所述第一像素点的亮度均值。

优选地，所述根据核多项式拟合算法计算所述第一像素点的亮度均值的步骤包括：

采用多项式表述所述第一像素点，得到所述第一像素点对应的多项式；

采用所述第一像素点和所述第二像素点进行多项式拟合计算，得到多项式系数；

根据所述多项式系数得到所述第一像素点的亮度均值。

优选地，所述采用所述第一像素点和所述第二像素点进行多项式拟合计算，得到多项式系数的步骤包括：

采用所述第一像素点和所述第二像素点进行多项式拟合计算，得到多项式拟合结果；

根据所述第一像素点和所述第二像素点之间的空间距离构建核函数对应的对角矩阵；

根据所述多项式拟合结果将所述多项式转换成矩阵形式，得到多项式矩阵；

根据所述第二像素点对应的第二像素值、所述对角矩阵和所述多项式矩阵计算出多项式系数。

优选地，所述计算所述第一像素点的亮度均值的步骤包括：

采用低通滤波器或者空间滤波器计算所述第一像素点的亮度均值。