[发明专利]图像Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质

权利要求书

1.一种图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述图像Mura缺陷评估方法包括以下步骤：

当获取到液晶显示器LCD的待检测图像后，对所述待检测图像的第一像素点和距离所述第一像素点预设范围内的第二像素点进行滤波处理，得到处理后的所述第一像素点的第一像素值；

根据所述第一像素值计算所述第一像素点的多尺度视差值；

计算所述第一像素点的亮度均值；

根据所述多尺度视差值和所述亮度均值计算出所述第一像素点的多尺度可觉视差，根据所述多尺度可觉视差评估所述第一像素点的斑Mura缺陷。

2.如权利要求1所述的图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述根据所述多尺度可觉视差评估所述第一像素点的Mura缺陷的步骤之后，还包括：

采用形态学滤波对所述待检测图像执行腐蚀操作和膨胀操作，以得到所述待检测图像中完整的所述Mura缺陷。

3.如权利要求1所述的图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述根据所述多尺度可觉视差评估所述第一像素点的Mura缺陷的步骤之后，还包括：

计算所述Mura缺陷的面积，根据所述面积和所述多尺度可觉视差评估所述Mura缺陷的严重程度。

4.如权利要求1所述的图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述当获取到液晶显示器LCD的待检测图像后，对所述待检测图像的第一像素点和距离所述第一像素点预设范围内的第二像素点进行滤波处理，得到处理后的所述第一像素值的步骤包括：

当获取到LCD的待检测图像后，确定所述待检测图像中的第一像素点，以及距第一像素点预设范围内第二像素点；

根据所述第一像素点的第一像素值和所述第二像素点对应的第二像素值计算所述第二像素点的归一化权值；

根据所述第一像素值和所述归一化权值计算所述第一像素点经过处理后的第一像素值。

5.如权利要求1至4任一项所述的图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述计算所述第一像素点的亮度均值的步骤包括：

根据核多项式拟合算法计算所述第一像素点的亮度均值。

6.如权利要求5所述的图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述根据核多项式拟合算法计算所述第一像素点的亮度均值的步骤包括：

采用多项式表述所述第一像素点，得到所述第一像素点对应的多项式；

采用所述第一像素点和所述第二像素点进行多项式拟合计算，得到多项式系数；

根据所述多项式系数得到所述第一像素点的亮度均值。

7.如权利要求6所述的图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述采用所述第一像素点和所述第二像素点进行多项式拟合计算，得到多项式系数的步骤包括：

采用所述第一像素点和所述第二像素点进行多项式拟合计算，得到多项式拟合结果；

根据所述第一像素点和所述第二像素点之间的空间距离构建核函数对应的对角矩阵；

根据所述多项式拟合结果将所述多项式转换成矩阵形式，得到多项式矩阵；

根据所述第二像素点对应的第二像素值、所述对角矩阵和所述多项式矩阵计算出多项式系数。

8.如权利要求1至4任一项所述的图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述计算所述第一像素点的亮度均值的步骤包括：

采用低通滤波器或者空间滤波器计算所述第一像素点的亮度均值。

9.一种图像Mura缺陷评估系统，其特征在于，所述图像Mura缺陷评估系统包括存储器、处理器和存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的图像Mura缺陷评估程序，所述图像Mura缺陷评估程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的图像Mura缺陷评估方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有图像Mura缺陷评估程序，所述图像Mura缺陷评估程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的图像Mura缺陷评估方法的步骤。