[发明专利]一种应用于MCU复位系统中的抗干扰设计方法在审
申请号: | 201711233641.1 | 申请日: | 2017-11-30 |
公开(公告)号: | CN107861597A | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 唐映强;陈恒江;陈峰;王炯翊 | 申请(专利权)人: | 无锡中微爱芯电子有限公司 |
主分类号: | G06F1/24 | 分类号: | G06F1/24;H03K5/1252 |
代理公司: | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙)11427 | 代理人: | 陈娟 |
地址: | 214000 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了MCU类集成电路复位系统中的抗干扰设计技术领域的一种应用于MCU复位系统中的抗干扰设计方法,针对应用于较为复杂环境下的MCU,确保其工作的可靠性,不易因一些外界干扰而使电路被复位进入误操作状态。同时对于对复位时间有特殊要求的应用环境,而应用环境干扰信号较弱的情况下,可以通过MCU配置字配置系统复位信号的输出时间,在接收到复位信号之后,复位系统立即响应复位,MCU复位系统中的常见复位方式有上电复位、掉电复位、WDT(看门狗)复位、外部复位等,如果开启复位系统中的某一种或几种复位方式,一旦产生复位信号,MCU整个系统将会被复位而重新开始运行。 | ||
搜索关键词: | 一种 应用于 mcu 复位 系统 中的 抗干扰 设计 方法 | ||
【主权项】:
一种应用于MCU复位系统中的抗干扰设计方法,其特征在于:该应用于MCU复位系统中的抗干扰设计方法如下:S1:输入信号IN初始为高电平,输出信号OUT恒定为高电平;当输入信号IN由高电平变为低电平时,经过n*2个clk后,输出信号OUT变为低电平;其中clk来自于MCU内部低速时钟或低速时钟的分频;SEL信号来自于MCU配置字;如果输入信号IN由高电平变为低电平后,保持低电平的时间小于n*2*Tclk(Tclk为clk时钟周期),然后又变为高电平,则输出OUT依然会保持为高电平;S2:在MCU复位系统中,输入信号IN为系统复位信号,且低电平复位;在电路正常工作期间,IN信号保持为高电平,输出信号OUT也保持为高电平;当电路受到干扰之后,IN信号可能会出现短时间的低脉冲,只要低脉冲保持的时间小于n*2*Tclk(Tclk为clk时钟周期),则输出信号依然会保持为高电平,电路依然正常工作;S3:只有干扰信号低脉冲保持的时间大于n*2*Tclk(Tclk为clk时钟周期),输出信号OUT才会出现低脉冲毛刺,系统才会异常复位;S4:根据设计需求,可以调整n的值及Tclk值(Tclk为clk时钟周期)以调整滤出低脉冲干扰信号的能力,提升电路抗干扰性能;SEL配置选择信号为1,当SEL=1时,输出信号OUT会随着输入信号IN的变化而变化。在MCU复位系统中,输入信号IN为系统复位信号,且低电平复位;对于应用于干扰信号很弱的环境下,并且不会轻易触发MCU系统异常复位,对复位时间有特殊要求的环境下,需要电路在接收到复位信号后立即复位的情况下,可以通过SEL配置选择信号配置到此种工作模式。
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