[发明专利]防瞬态闩锁的ESD保护电路有效
申请号: | 201711217078.9 | 申请日: | 2017-11-28 |
公开(公告)号: | CN107946298B | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
发明(设计)人: | 乔明;肖家木;齐钊;王正康;毛焜;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学;上海晶丰明源半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 敖欢;葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供一种防瞬态闩锁的ESD保护电路,包括p型衬底,在p型衬底上的p埋层,设置在p埋层上的第一区和第二区:第一区的击穿电压比第二区的击穿电压更高,同时又比后续电路的损坏电压更低本发明通过调节可调电阻的阻值来调整整个电路的维持电压,大大增加了ESD保护电路设计的灵活性,实现了在防止闩锁的前提下能以较低功耗泄放ESD信号的功能,使得该电路的电压适用范围更广。 | ||
搜索关键词: | 瞬态 esd 保护 电路 | ||
【主权项】:
一种防瞬态闩锁的ESD保护电路,其特征在于包括p型衬底(01),在p型衬底上的p埋层(07),设置在p埋层(07)上的第一区和第二区:第一区包括:设置在p埋层(07)上的右nwell区(02),与右nwell区(02)右边缘相切的右pwell区(03),在右nwell区(02)上表面注入的第一右N+接触区(11)以及与其右边缘相切的第一右P+区(21),第一右N+接触区(11)与第一右P+区(21)表面用金属短接,构成器件阳极(31);在右pwell区(03)上表面注入的第二右N+接触区(12)以及与其右边缘相切的第二右P+区(22),第二右N+接触区(12)通过金属与可调电阻(06)相连接,再短接到阴极(08),第二右P+区(22)通过金属与阴极(08)短接;在右nwell区(02)和右pwell区(03)交界处的表面注入形成的右N+低触发区(13);第二区包括:设置p埋层(07)上的左nwell区(021),以及与左nwell区(021)左边缘相切的左pwell区(031),在左nwell区(021)上表面注入的第一左N+接触区(111)以及与其左边缘相切的第一左P+区(211),第一左N+接触区(111)与第一左P+区(211)表面用金属短接,构成器件阳极(31),在左pwell区(031)上表面注入的第二左N+接触区(121)以及与其左边缘相切的第二左P+区(221),第二左N+接触区(121)通过金属短接到阴极(08),第二左P+区(221)通过金属与阴极(08)短接,在左nwell区(021)和左pwell区(031)交界处的表面注入形成的左N+低触发区(131);第二区的击穿电压比第一区的击穿电压更高,同时又比后续电路的损坏电压更低。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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