[发明专利]发射结选择性接触的隧穿氧化钝化PERC电池制备方法在审
申请号: | 201711070867.4 | 申请日: | 2017-11-03 |
公开(公告)号: | CN109755343A | 公开(公告)日: | 2019-05-14 |
发明(设计)人: | 汪建强;郑飞;陶智华;赵晨;刘慎思;张忠卫;阮忠立 | 申请(专利权)人: | 上海神舟新能源发展有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 林君如 |
地址: | 201112 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种发射结选择性接触的隧穿氧化钝化PERC电池制备方法,包括:硅片单面制绒,制绒面制备隧穿氧化层SiO2及掺P多晶硅层形成N+发射结,选择性刻蚀去掉背面绕度掺P多晶硅层,对正面磷掺杂多晶硅层进行激活,在发射结表面进行选择性掺杂,硅片背面经过沉积AL2O3层,硅片正面及背面沉积氢化非晶氮化硅钝化减反射层,对背面钝化层进行选择性图形化开膜,通过丝网印刷背面铝电场、背电极及正面金属电极栅线,形成正背面电极金属化欧姆接触。与现有技术相比,本发明改善了现有单晶PERC电池的发射结表面复合,大幅提升电池Voc,兼容现有PERC量产路径,是下一代高效单晶PERC电池的重点开发方向。 | ||
搜索关键词: | 发射结 多晶硅层 背面 选择性接触 电池制备 氧化钝化 电池 单晶 隧穿 沉积 正面金属电极 背面钝化层 氮化硅钝化 电极金属化 隧穿氧化层 选择性掺杂 选择性刻蚀 选择性图形 电场 表面复合 单面制绒 硅片背面 硅片正面 减反射层 欧姆接触 丝网印刷 重点开发 背电极 磷掺杂 氢化非 正背面 硅片 量产 绕度 栅线 制备 制绒 兼容 激活 | ||
【主权项】:
1.一种发射结选择性接触的隧穿氧化钝化PERC电池制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)将硅片在碱制绒槽中去除损伤层并进行表面抛光、正面制绒,形成1μm‑6μm高的金字塔绒面,即硅片制绒面;(2)在硅片制绒面依次制备隧穿氧化层SiO2及掺P多晶硅层形成N+发射结;(3)采用湿法化学处理进行选择性刻蚀,去掉硅片背面绕镀的掺P多晶硅层;(4)高温退火处理,对硅片正面的掺P多晶硅层中的磷元素进行激活;(5)采用激光掺杂的方式,在硅片正面掺P多晶硅层及隧穿氧化层SiO2上进行选择性掺杂,形成选择性掺杂区域;(6)在硅片背面经过ALD或PECVD的方式沉积5‑20nm厚的AL2O3层;(7)硅片正面及背面沉积氢化非晶氮化硅钝化减反射层;(8)采用ns激光对硅片背面氢化非晶氮化硅钝化减反射层进行选择性图形化开膜;(9)通过丝网印刷背面铝背场、背电极及正面金属电极栅线,形成正背面电极金属化欧姆接触即可。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的