[发明专利]一种集成电路封装键合前等离子清洗方法及装置在审

专利信息
申请号: 201711042411.7 申请日: 2017-10-31
公开(公告)号: CN107845568A 公开(公告)日: 2018-03-27
发明(设计)人: 章建声;张成;黄迅驹;张青云 申请(专利权)人: 浙江华越芯装电子股份有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L21/673;H01J37/32
代理公司: 绍兴市越兴专利事务所(普通合伙)33220 代理人: 蒋卫东
地址: 312000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开一种集成电路封装键合前等离子清洗方法及装置,所述装置包括等离子清洗机,所述等离子清洗机设有高频电源系统、自动控制系统,以及真空室,所述真空室分别与氩氢混合气源、氮气气源相连通,所述真空室通过泵体系统进行内部空气抽取。所述清洗方法包括抽真空,充入氩氢混合气,等离子清洗,充入氮气等步骤。本发明所述的等离子清洗方法和装置,具有清洗高效、快速,清洗成本低等特点。
搜索关键词: 一种 集成电路 封装 键合前 等离子 清洗 方法 装置
【主权项】:
一种集成电路封装键合前等离子清洗方法,其特征在于包括如下步骤:步骤1、将待清洗集成电路产品放入镂空料盒中备用;步骤2、开启等离子清洗机电源、氩氢混合气源、以及其他相关动力源,初始化清洗程序;步骤3、将步骤1的镂空料盒整盒放入真空室中;步骤4、选择对应清洗程序开始清洗,对真空室进行快速抽真空至设定值,然后充入氩氢混合气并将真空度保持在设定范围;步骤5、开启高频电源,使真空室内的气体电离,产生等离子在真空室内对集成电路产品进行清洗;步骤6、达到设定的清洗时间后,关闭高频电源,向真空室充入氮气,真空室内气压达到常压后发出提示信号,清洗结束。
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