[发明专利]具备自测试功能的双总线型E-FLASH控制电路

摘要

本发明涉及一种具备自测试功能的双总线型E‑FLASH控制电路，其包括用于对E‑FLASH单元进行测试的测试模块以及能实现对E‑FLASH单元操作的总线接口模块，所述总线接口模块与控制模块连接；所述总线接口模块包括与控制模块连接的AHB桥以及与控制模块连接的配置寄存器，所述配置寄存器与IPS桥连接，所述配置寄存器与E‑FLASH单元连接；通过AHB桥与IPS桥配合对E‑FLASH单元进行所需的操作，或通过IPS桥直接对E‑FLASH单元进行所需的操作。本发明结构简单，使用灵活，可靠性高，能够满足SoC中对E‑FLASH测试和控制的要求。

主权项

一种具备自测试功能的双总线型E‑FLASH控制电路，其特征是：包括用于对E‑FLASH单元（103）进行测试的测试模块（102）以及能实现对E‑FLASH单元（103）操作的总线接口模块（100），所述总线接口模块（100）与控制模块（101）连接；所述总线接口模块（100）包括与控制模块（101）连接的AHB桥（105）以及与控制模块（101）连接的配置寄存器（107），所述配置寄存器（107）与IPS桥（106）连接，所述配置寄存器（107）与E‑FLASH单元（103）连接；通过AHB桥（105）与IPS桥（106）配合对E‑FLASH单元（103）进行所需的操作，或通过IPS桥（106）直接对E‑FLASH单元（103）进行所需的操作。