[发明专利]具备自测试功能的双总线型E-FLASH控制电路

说明书

本发明涉及一种具备自测试功能的双总线型E‑FLASH控制电路，其包括用于对E‑FLASH单元进行测试的测试模块以及能实现对E‑FLASH单元操作的总线接口模块，所述总线接口模块与控制模块连接；所述总线接口模块包括与控制模块连接的AHB桥以及与控制模块连接的配置寄存器，所述配置寄存器与IPS桥连接，所述配置寄存器与E‑FLASH单元连接；通过AHB桥与IPS桥配合对E‑FLASH单元进行所需的操作，或通过IPS桥直接对E‑FLASH单元进行所需的操作。本发明结构简单，使用灵活，可靠性高，能够满足SoC中对E‑FLASH测试和控制的要求。

技术领域

本发明涉及一种控制电路，尤其是一种具备自测试功能的双总线型E-FLASH控制电路，属于SoC的技术领域。

背景技术

随着集成电路性能的不断提高和通信技术的飞速发展，SoC型电路变得越来越普遍；SoC是片上系统的简称，它是以CPU为核心，以通用及定制IP（知识产权）为基础，形成的软硬件协同工作的产品。通过软件编程能实现SoC的灵活配置，内嵌FLASH能存储编程数据，同时E-FLASH以其低成本、高稳定性及灵活使用的特性脱颖而出，E-FLASH的广泛应用使得E-FLASH控制器成为SoC系统中必不可少的一部分。

目前有使用E-FLASH控制器的方案，但是数据和时序的配置不够灵活，针对不同种类的E-FLASH，需要修改硬件代码，无形中增加了设计的复杂性E-FLASH不带有自测试功能，无形中丧失了debug（调试）功能，不便于E-FLASH的调试和故障诊断。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种具备自测试功能的双总线型E-FLASH控制电路，其结构简单，使用灵活，可靠性高，能够满足SoC中对E-FLASH测试和控制的要求。

按照本发明提供的技术方案，所述具备自测试功能的双总线型E-FLASH控制电路，包括用于对E-FLASH单元进行测试的测试模块以及能实现对E-FLASH单元操作的总线接口模块，所述总线接口模块与控制模块连接；

所述总线接口模块包括与控制模块连接的AHB桥以及与控制模块连接的配置寄存器，所述配置寄存器与IPS桥连接，所述配置寄存器与E-FLASH单元连接；

通过AHB桥与IPS桥配合对E-FLASH单元进行所需的操作，或通过IPS桥直接对E-FLASH单元进行所需的操作。

通过IPS桥直接实现对E-FLASH单元进行的操作包括数据擦除、数据读取或数据写入；对E-FLASH单元进行操作时，通过对配置寄存器进行配置，以控制E-FLASH单元完成所需的操作。

通过AHB桥与IPS桥配合对E-FLASH单元进行的操作包括数据擦除、数据读取或数据写入；对E-FLASH单元进行操作时，通过IPS桥对配置寄存器进行配置，AHB桥将操作控制信息传输至控制模块内，控制模块根据操作控制信息使得E-FLASH单元完成所需的操作。

所述AHB桥向控制模块传输的操作控制信息包括地址信息或数据信息。

所述控制模块与数据缓冲模块连接，通过数据缓冲模块能存储对E-FLASH单元操作过程中数据的地址信息，控制模块能直接读取数据缓冲模块中存储的地址信息。

在对E-FLASH单元进行测试时，向测试模块串行输入测试指令和配置参数，根据配置参数对所需执行的测试操作进行相应的配置，并生成相应的测试激励，以对E-FLASH单元进行相应的测试，测试模块能将对E-FLASH单元的测试结果输出。