[发明专利]一种硅片单面刻蚀装置在审
申请号: | 201710811292.0 | 申请日: | 2017-09-11 |
公开(公告)号: | CN107452658A | 公开(公告)日: | 2017-12-08 |
发明(设计)人: | 何达能;方结彬;秦崇德;陈刚 | 申请(专利权)人: | 浙江爱旭太阳能科技有限公司;广东爱康太阳能科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L31/18;C30B33/10 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司44202 | 代理人: | 胡枫 |
地址: | 322009 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅片单面刻蚀装置,包括刻蚀室,循环泵和药液管道;所述刻蚀室内设置一个用于承托硅片的旋转工作台,在旋转工作台上方设有喷淋装置;喷淋装置与药液管道连通,刻蚀室底部设有出水口,出水口与循环泵通过药液管道连通;所述旋转工作台包括旋转驱动装置、抽真空装置和托板,所述托板与旋转驱动装置的转轴连接以使托板随转轴旋转而旋转,所述托板包括托板本体,空腔和真空吸附孔,空腔位于托板本体的内部,真空吸附孔与空腔相连且真空吸附孔贯穿至托板本体上表面,空腔与抽真空装置相连通。采用本发明,实现硅片单面刻蚀,可控制硅片刻蚀速度和刻蚀深度,设备结构简单,成本低,易于实现量产。 | ||
搜索关键词: | 一种 硅片 单面 刻蚀 装置 | ||
【主权项】:
一种硅片单面刻蚀装置,其特征在于,包括刻蚀室,循环泵和药液管道;所述刻蚀室内设置一个用于承托硅片的旋转工作台,在旋转工作台上方设有喷淋装置;喷淋装置与药液管道连通,刻蚀室底部设有出水口,出水口与循环泵通过药液管道连通;所述旋转工作台包括旋转驱动装置、抽真空装置和托板,所述托板与旋转驱动装置的转轴连接以使托板随转轴旋转而旋转,所述托板包括托板本体,空腔和真空吸附孔,空腔位于托板本体的内部,真空吸附孔与空腔相连且真空吸附孔贯穿至托板本体上表面,空腔与抽真空装置相连通。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造