[发明专利]基于轮廓检测和特征匹配的LCD缺陷检测方法在审
| 申请号： | 201710782328.7 | 申请日： | 2017-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN107633507A | 公开（公告）日： | 2018-01-26 |
| 发明（设计）人： | 朱炳斐;陈文建;张峻乾 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/33 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人： | 马鲁晋 |
| 地址： | 210094 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于轮廓检测和特征匹配的LCD缺陷检测方法，步骤如下首先采集m幅标准的LCD显示屏图像并求平均建立标准图库，每2min重新采集更新图库；然后采集待测的LCD显示屏图像；然后对标准图和待测图进行配准，采用基于轮廓检测和特征匹配的方法；接着对配准后的待测图和标准图进行加权平均融合，得到新的待测图；之后对融合后的待测图和标准图分别进行局部自适应阈值分割；最后差影法检测缺陷，并由最小外接矩形法统计缺陷的类型及位置。本发明能实时高精度检测LCD缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 轮廓 检测 特征 匹配 lcd 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
一种基于轮廓检测和特征匹配的LCD缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、采集N幅标准的LCD显示屏图像并求平均，得到标准模板图，建立标准图库,其中N为正整数；步骤2、采集待测的LCD显示屏图像；步骤3、将步骤1的标准模板图和步骤2的待测图进行配准，采用基于轮廓检测和特征匹配的方法，得到配准后的待测图；步骤4、对步骤1的标准模板图和步骤3得到的待测图进行融合处理，得到融合后的待测图；步骤5、分别对步骤1的标准模板图、步骤4得到的待测图进行阈值分割，得到两幅阈值图；步骤6、利用差影法处理步骤5得到的两幅阈值图，检测出缺陷。
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