[发明专利]基于轮廓检测和特征匹配的LCD缺陷检测方法

权利要求书

1.一种基于轮廓检测和特征匹配的LCD缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、采集N幅标准的LCD显示屏图像并求平均，得到标准模板图，建立标准图库,其中N为正整数；

步骤2、采集待测的LCD显示屏图像；

步骤3、将步骤1的标准模板图和步骤2的待测图进行配准，采用基于轮廓检测和特征匹配的方法，得到配准后的待测图；

步骤4、对步骤1的标准模板图和步骤3得到的待测图进行融合处理，得到融合后的待测图；

步骤5、分别对步骤1的标准模板图、步骤4得到的待测图进行阈值分割，得到两幅阈值图；

步骤6、利用差影法处理步骤5得到的两幅阈值图，检测出缺陷。

2.根据权利要求1所述的基于轮廓检测和特征匹配的LCD缺陷检测方法，其特征在于，步骤1所述的N≥5。

3.根据权利要求1所述的基于轮廓检测和特征匹配的LCD缺陷检测方法，其特征在于，步骤1所述的采集N幅标准图并求平均，该过程需每2min重复一次，更新标准图库。

4.根据权利要求1所述的基于轮廓检测和特征匹配的LCD缺陷检测方法，其特征在于，步骤3中基于轮廓检测和特征匹配的方法，具体过程如下：

步骤3-1、将步骤2的待测图和标准模板图填充延扩，得到两个w×h的矩形图像，且w≠h，其中，w为宽，h为高；

步骤3-2、对步骤3-1延扩之后的待测图进行全局阈值分割，得到二值图；

步骤3-3、对步骤3-2中的二值图进行轮廓检测，去除小于0.5×l或大于l以外的轮廓，留下图像目标区域的轮廓，保存为初步轮廓图，其中l为步骤3-1中矩形的周长；

步骤3-4、对步骤3-3中的初步轮廓图再进行由顶层至下的轮廓检测，保存为2D点集，并建立顶层点集的最小外接矩形；

步骤3-5、对步骤3-4得到的最小外接矩形进行分析计算，确定其与水平轴逆时针方向的旋转夹角绝对值θ和逆时针四个顶点坐标；

步骤3-6、根据步骤3-5得到的四个顶点坐标判别步骤2中的待测图相对标准模板图的旋转角度为正/负，之后再选择-θ或90°-θ对步骤2的待测图进行仿射变换获得初步配准图；

步骤3-7、对步骤3-6的初步配准图和标准模板图进行基于特征点的匹配，获得配准后的待测图。

5.根据权利要求1所述的基于轮廓检测和特征匹配的LCD缺陷检测方法，其特征在于，步骤4中融合处理，具体采用的是加权平均融合，所用的公式为：

B'(M,N)＝c₁A(M,N)+c₂B(M,N)

式中，A为标准模板图，B为配准后的待测图，大小均为M×N，其中M和N均为正整数，B’为融合后的待测图，加权系数：c₂＝1-c₁。

6.根据权利要求1所述的基于轮廓检测和特征匹配的LCD缺陷检测方法，其特征在于，步骤5中阈值分割，具体采用的是局部自适应阈值分割，其滑动窗口大小为9×9。

7.根据权利要求5所述的基于轮廓检测和特征匹配的LCD缺陷检测方法，其特征在于，加权系数c₁＝0.38，c₂＝0.62。