[发明专利]环抛中大尺寸修正盘表面形状误差的检测方法有效

专利信息
申请号: 201710762731.3 申请日: 2017-08-30
公开(公告)号: CN107560585B 公开(公告)日: 2019-09-03
发明(设计)人: 廖德锋;周炼;赵世杰;谢瑞清;陈贤华;王健;许乔 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 代理人: 蒲敏
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种环抛中大尺寸修正盘表面形状误差的高精度检测方法。环抛中大尺寸修正盘表面形状误差的检测方法,该方法包括以下步骤:1)采用位移传感器以圆弧路径检测修正盘的表面形状;2)采用直线度表桥标定参考点相对于中心点的高度;3)生成修正盘的径向轮廓。本发明针对大尺寸修正盘工作面朝下并且难以翻转的问题,根据修正盘表面形状呈中心对称分布的特点,结合机床抛光盘的旋转运动以圆弧路径扫描测得修正盘的表面形状。本发明能够检测大型环抛机中大尺寸修正盘的表面形状误差,检测过程简单方便且精度较高,通过本发明方法获得修正盘的表面形状,可以推测沥青抛光盘的形状,从而调整环抛加工工艺参数以改善光学元件的面形精度。
搜索关键词: 尺寸修正 修正盘 形状误差 盘表面 检测 圆弧路径 抛光盘 表面形状误差 加工工艺参数 中心对称分布 大型环抛机 高精度检测 位移传感器 光学元件 径向轮廓 参考点 调整环 直线度 中心点 翻转 标定 面形 机床 沥青 扫描
【主权项】:
1.环抛中大尺寸修正盘表面形状误差的检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:1)采用位移传感器以圆弧路径检测修正盘的表面形状;2)采用直线度表桥(40)标定参考点相对于中心点的高度:选择修正盘(26)表面的任一点作为参考点p,参考点与修正盘(26)中心的距离为d;采用跨度为2d的直线度表桥(40)检测参考点相对于中心点的高度,检测时直线度表桥(40)的中间探针位于中心点,两端支点分别位于参考点及其对称点,检测结果即为参考点的实际形状误差,记为h0;3)生成修正盘(26)的径向轮廓。
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