[发明专利]一种涂层缺陷的检测方法有效
| 申请号： | 201710725215.3 | 申请日： | 2017-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN109427049B | 公开（公告）日： | 2022-01-18 |
| 发明（设计）人： | 梁鑫;丁祖群;朱丽;邱静;高斌;程红霞 | 申请（专利权）人： | 成都飞机工业（集团）有限责任公司;电子科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/187;G01N25/72 |
| 代理公司： | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人： | 梁义东 |
| 地址： | 610092 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种涂层缺陷的检测方法，属于无损检测技术领域。所述检测方法包括以下步骤：A.利用闪光热成像无损检测设备获得热图像数据；B.对热图像数据进行去除背景处理及标准化处理；C.对标准化处理后的每一帧热图片进行向量化处理，并顺序化排列，构架出一个新矩阵；D.利用PCA法得到表征缺陷的特征图像；E.将得到的特征图像进行图像分割处理，量化出实际试件中缺陷的大小。相较于现有技术中的涂层缺陷检测方法，本发明具有检测自动化和涂层缺陷可量化，检测效率高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 涂层 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种涂层缺陷的检测方法，其特征在于：包括以下步骤：A.利用闪光热成像无损检测设备获得热图像数据；B.对热图像数据进行去除背景处理及标准化处理；C.对标准化处理后的每一帧热图片进行向量化处理，并顺序化排列，构架出一个新矩阵；D.利用PCA法得到表征缺陷的特征图像；E.将得到的特征图像进行图像分割处理，量化出实际试件中缺陷的大小。
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