[发明专利]X线检查装置及其控制方法、记录介质有效
| 申请号： | 201710695078.3 | 申请日： | 2017-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN107843606B | 公开（公告）日： | 2020-03-24 |
| 发明（设计）人： | 笠原启雅;杉田信治;大西贵子 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 向勇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种针对在2D透射图像中难以检测的不良，也能够以短时间且低曝光来进行检查的技术。X线检查装置具有：3D处理部，只对被检查区域中的第一区域执行3D摄像；2D处理部，对被检查区域中的第二区域执行2D摄像；提取部，从第一区域的3D图像提取第一被检查物的3D信息，且从第二区域的2D图像提取第二被检查物的2D信息；3D信息推定部，基于由提取部所提取的第一被检查物的3D信息，推定第二被检查物的3D信息；以及检查部，使用第二被检查物的2D信息和所推定的3D信息，检查第二被检查物。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 及其 控制 方法 记录 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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