[发明专利]一种基于频域特征的芯片元件角度获取方法

摘要

一种基于频域特征的芯片元件角度获取方法，属于贴片机视觉检测技术领域。本发明是为了解决现有检测芯片元件角度的方法受光照影响较大，检测效率低的问题。本发明所述的一种基于频域特征的芯片元件角度获取方法，通过对芯片图像快速傅里叶变换、计算幅值图像、对数变换、图像裁剪重新排列、可视化变换、二值化处理和直线检测等步骤，实现所提出的方法。本发明提出的一种基于频域特征的芯片元件角度获取方法，能够应用于贴片机视觉系统中的芯片定位和检测领域。

主权项

一种基于频域特征的芯片元件角度获取方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：将芯片图像以左上角对齐为标准进行延拓，获得纯色延拓芯片时域图像，且使纯色延拓芯片图像的像素为2、3或5的倍数；步骤二：对纯色延拓芯片时域图像进行离散傅里叶变换，获得频域图像，步骤三：计算频域图像的幅值图像；步骤四：将幅值图像每点的像素值进行对数变换，获得对数图像；步骤五：以对数图像的中心点为原点将对数图像剪裁成四个矩形等份，将位于同一对角线的两部分互换位置，使对数图像的高频部分移到边缘位置，对数图像的低频部分移到中心位置，获得重排列图像；步骤六：将重排列图像中各个像素点的像素值归一化至0～255的可视化区间内，获得可视化图像；步骤七：采用自动阈值方法对可视化图像进行二值化处理，获得二值化图像；步骤八：对二值化图像进行霍夫直线检测，并将最长的直线作为检测结果直线；步骤九：计算检测结果直线的角度，则该角度为芯片元件角度。