[发明专利]一种基于频域特征的芯片元件角度获取方法

权利要求书

1.一种基于频域特征的芯片元件角度获取方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：将芯片图像以左上角对齐为标准进行延拓，获得纯色延拓芯片时域图像，且使纯色延拓芯片图像的像素为2、3或5的倍数；

步骤二：对纯色延拓芯片时域图像进行离散傅里叶变换，获得频域图像，

步骤三：计算频域图像的幅值图像；

步骤四：将幅值图像每点的像素值进行对数变换，获得对数图像；

步骤五：以对数图像的中心点为原点将对数图像剪裁成四个矩形等份，将位于同一对角线的两部分互换位置，使对数图像的高频部分移到边缘位置，对数图像的低频部分移到中心位置，获得重排列图像；

步骤六：将重排列图像中各个像素点的像素值归一化至0～255的可视化区间内，获得可视化图像；

步骤七：采用自动阈值方法对可视化图像进行二值化处理，获得二值化图像；

步骤八：对二值化图像进行霍夫直线检测，并将最长的直线作为检测结果直线；

步骤九：计算检测结果直线的角度，则该角度为芯片元件角度。

2.根据权利要求1所述的一种基于频域特征的芯片元件角度获取方法，其特征在于，步骤二中，利用下式对纯色延拓芯片时域图像f(x,y)进行离散傅里叶变换：

F(u,v)=Σx=0M-1Σy=0M-1f(x,y)e-j2π(uxM+vyN)]]>

其中，x和y分别为时域图像中任一图像点的横坐标和纵坐标，u和v分别为频域图像中任一图像点的横坐标和纵坐标，j表示虚数单位，M为时域图像的宽度，N为时域图像的高度；

频域图像F(u,v)的像素值为复数，该复数的实部值表示实部图像Re(u,v)，虚部值表示虚部图像Im(u,v)，则有：

Re(u,v)=Σx=0M-1Σy=0M-1f(x,y)×cos[-2π(uxM+vyN)]]]>

Im(u,v)=Σx=0M-1Σy=0M-1f(x,y)×sin[-2π(uxM+vyN)].]]>