[发明专利]非易失性存储装置及其数据去重复方法有效
| 申请号： | 201710654881.2 | 申请日： | 2017-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN107402725B | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 谢廷俊;戴颖煜;朱江力 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 王珊珊 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种非易失性存储装置及其数据去重复方法。非易失性存储装置包括非易失性存储器以及控制器。控制器进行错误校验纠正方法，而将原数据转换为经编码数据。控制器进行数据去重复方法，来减少相同的经编码数据被重复写入非易失性存储器的次数。控制器复用错误校验纠正方法来产生对应于原数据的特征信息。当在特征列表中找得到该特征信息时，原数据所对应的经编码数据不会被写入非易失性存储器。当在特征列表中找不到该特征信息时，该特征信息会被加入特征列表，以及原数据所对应的经编码数据会被写入非易失性存储器。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失性 存储 装置 及其 数据 重复 方法 | ||
【主权项】：
一种非易失性存储装置，包括：一非易失性存储器；以及一控制器，耦接至该非易失性存储器，用以进行一错误校验纠正方法而将一原数据转换为一经编码数据，以及用以进行一数据去重复方法来减少相同的该经编码数据被重复写入该非易失性存储器的次数，其中该数据去重复方法包括：复用该错误校验纠正方法来产生对应于该原数据的一特征信息；使用该特征信息来查找一特征列表；当在该特征列表中找得到该特征信息时，不将该原数据所对应的该经编码数据写入该非易失性存储器；以及当在该特征列表中找不到该特征信息时，将该原数据所对应的该特征信息加入该特征列表以及将该原数据所对应的该经编码数据写入该非易失性存储器。
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