[发明专利]薄膜晶体管阵列基板及其制备方法、显示装置在审
申请号: | 201710508076.9 | 申请日: | 2017-06-28 |
公开(公告)号: | CN107342297A | 公开(公告)日: | 2017-11-10 |
发明(设计)人: | 周星宇 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司44304 | 代理人: | 孙伟峰,黄进 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种薄膜晶体管阵列基板的制备方法,包括在衬底基板上制备形成图案化的有源层的步骤,该步骤包括在衬底基板上依次制备形成非晶硅薄膜层和掺杂硼的非晶硅锗薄膜层;采用热退火工艺对所述非晶硅薄膜层和掺杂硼的非晶硅锗薄膜层进行晶化处理,获得多晶硅薄膜层和掺杂硼的多晶硅锗薄膜层;应用光刻工艺,将所述多晶硅薄膜层和所述多晶硅锗薄膜层刻蚀形成图案化的有源层,所述有源层包括有源区,所述有源区包括沟道区和分别位于所述沟道区两侧的源极区和漏极区。本发明还公开了一种薄膜晶体管阵列基板以及包含该阵列基板的显示装置。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 阵列 及其 制备 方法 显示装置 | ||
【主权项】:
一种薄膜晶体管阵列基板的制备方法,包括在衬底基板上制备形成图案化的有源层的步骤,其特征在于,包括:在衬底基板上依次制备形成非晶硅薄膜层和掺杂硼的非晶硅锗薄膜层;采用热退火工艺对所述非晶硅薄膜层和掺杂硼的非晶硅锗薄膜层进行晶化处理,将所述非晶硅薄膜层转化为多晶硅薄膜层,将所述掺杂硼的非晶硅锗薄膜层转化为掺杂硼的多晶硅锗薄膜层;应用光刻工艺,将所述多晶硅薄膜层和所述多晶硅锗薄膜层刻蚀形成图案化的有源层,所述有源层包括有源区,所述有源区包括沟道区和分别位于所述沟道区两侧的源极区和漏极区;其中,所述有源区由所述多晶硅薄膜层刻蚀形成,所述源极区上方的多晶硅锗薄膜层被保留以形成第一接触层,所述漏极区上方的多晶硅锗薄膜层被保留以形成第二接触层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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