[发明专利]低阻抗接触窗插塞的形成方法有效
申请号: | 201710493087.4 | 申请日: | 2017-06-26 |
公开(公告)号: | CN108695240B | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 许劭铭;李振铭;杨復凱 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种低阻抗接触窗插塞的形成方法,包含形成第一与第二接触窗开口,以分别显露第一及第二源极/漏极区;形成罩幕层,其具有分别在第一和第二接触窗开口中的第一部分和第二部分;分别形成第一和第二牺牲层间介电层于第一和第二接触窗开口中;从第一接触窗开口移除第一牺牲层间介电层;填入填充材至第一接触窗开口中;及,蚀刻第二牺牲层间介电层。填充材保护罩幕层的第一部分,以避免被蚀刻。层间介电层形成于第二接触窗开口中及罩幕层的第二部分上。使用湿式蚀刻移除填充材和罩幕层的第一部分,以显露出第一接触窗开口。接触窗插塞是形成于第一接触窗开口中。 | ||
搜索关键词: | 阻抗 接触 窗插塞 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种低阻抗接触窗插塞的形成方法,其特征在于,包含:形成一第一接触窗开口与一第二接触窗开口,以分别显露出一第一源极/漏极区以及一第二源极/漏极区;形成一罩幕层,该罩幕层包含分别在该第一接触窗开口和该第二接触窗开口中的一第一部分和一第二部分;分别形成一第一牺牲层间介电层和一第二牺牲层间介电层于该第一接触窗开口和该第二接触窗开口中;从该第一接触窗开口中移除该第一牺牲层间介电层;填充一填充材至该第一接触窗开口中;蚀刻该第二牺牲层间介电层,其中该填充材保护该罩幕层的该第一部分,以避免被蚀刻;形成一层间介电层于该第二接触窗开口中并于该罩幕层的该第二部分上;使用湿式蚀刻移除该填充材与该罩幕层的该第一部分,以显露出该第一接触窗开口;以及形成一接触窗插塞于该第一接触窗开口中。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造