[发明专利]一种小麦出苗均匀度测定方法有效

专利信息
申请号: 201710349271.1 申请日: 2017-05-17
公开(公告)号: CN107274384B 公开(公告)日: 2020-09-22
发明(设计)人: 刘涛;武威;孙成明;朱新开;郭文善 申请(专利权)人: 扬州大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/62
代理公司: 南京钟山专利代理有限公司 32252 代理人: 戴朝荣
地址: 225009 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种小麦出苗均匀度测定方法,包括以下步骤:田间图像获取:基于无人机近地5‑10米获取3‑5叶期小麦RGB图像;植被提取:利用公式提取图像中的小麦苗;盖度提取:将图像划分为若干个0.30m×0.30m的子区域,计算每个子区域中麦苗部分的像素值占图像总像素值的百分比,记为盖度;均匀度计算:计算子区域间盖度的变异系数来表示均匀度;缺苗情况调查:计算条播小麦中的缺苗长度10cm的断行区域,计算撒播小麦的缺苗面积0.02m2的缺苗区域。本发明测定方法,计算效率高,可以快速大面积全面的调查出苗均匀度,相比人工调查效率高、覆盖面广。
搜索关键词: 一种 小麦 出苗 均匀 测定 方法
【主权项】:
一种小麦出苗均匀度测定方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1)田间图像获取:基于无人机近地5‑10米获取3‑5叶期小麦RGB图像;步骤2)植被提取:利用公式(1)提取图像中的小麦苗,Exg=2*G‑R‑B   (1)其中G、R、B为RGB图像中的绿、红、蓝波段;步骤3)盖度提取:将图像划分为若干个0.30m×0.30m的子区域,计算每个子区域中麦苗部分的像素值占图像总像素值的百分比,记为盖度;步骤4)均匀度计算:以每个子区域的盖度为依据,计算子区域间盖度的变异系数CV来表示均匀度,变异系数计算公式为:Ex=1nΣi=1nxi]]>δx=1nΣi=1n(xi-Ex)]]>CV=δxEx]]>其中,δx表示标准差,Ex表示平均值;步骤5)缺苗情况调查:计算条播小麦中的缺苗长度>10cm的断行区域,计算撒播小麦的缺苗面积>0.02m2的缺苗区域。
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