[发明专利]集成电路及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201710323449.5 申请日: 2017-05-09
公开(公告)号: CN108878471B 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 刘少鹏;陆宇 申请(专利权)人: 中电海康集团有限公司;浙江驰拓科技有限公司
主分类号: H01L27/22 分类号: H01L27/22;H01L23/528;H01L21/768
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 韩建伟;谢湘宁
地址: 311121 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种集成电路及其制备方法。该集成电路包括顺序层叠设置的半导体衬底、逻辑器件、下金属互连层、中间介质层和上金属互连层,中间介质层中设置有MRAM和第一导体,下金属互连层和上金属互连层通过第一导体电连接,MRAM包括依次叠置在中间介质层中的第二导体、下电极、存储单元、上电极和第三导体,且下电极通过第二导体与下金属互连层电连接,第三导体和上金属互连层电连接。由于上述MRAM中的下电极通过第二导体与下金属互连层连接,不仅能够减小孔的电阻,还能够对下电极进行不同材料和工艺上的选择进行调整,从而使MRAM能够具有优异的存储性能,进而使集成有MRAM与逻辑器件的集成电路能够具有优异的性能。
搜索关键词: 集成电路 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种集成电路,包括顺序层叠设置的半导体衬底、逻辑器件、下金属互连层(10)、中间介质层和上金属互连层(50),所述中间介质层中设置有MRAM(30)和第一导体(40),所述下金属互连层(10)和所述上金属互连层(50)通过所述第一导体(40)电连接,其特征在于,所述MRAM(30)包括依次叠置在所述中间介质层中的第二导体(310)、下电极(320)、存储单元(330)、上电极(340)和第三导体(350),且所述下电极(320)通过所述第二导体(310)与所述下金属互连层(10)电连接,所述第三导体(350)和所述上金属互连层(50)电连接。
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