[发明专利]一种双波段探测器的制作方法在审

专利信息
申请号: 201710185061.3 申请日: 2017-03-25
公开(公告)号: CN106972077A 公开(公告)日: 2017-07-21
发明(设计)人: 张清 申请(专利权)人: 张清
主分类号: H01L31/105 分类号: H01L31/105;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 257000 *** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种双面红外/紫外双波段探测器制作方法,通过红外探测区以及紫外探测区的结构和位置的设置,紫外探测区域在正面入射光探测时使用正面入光p-i-n结构,在背面入射光探测时使用背面入光p-i-n结构,红外探测区域分别使用衬底正面和背面的探测结构进行探测,使制作的双面红外/紫外双波段探测器,能够对于正面/背面入射的红外/紫外光都能够进行探测,并且红外和紫外光探测区域互不干扰,从而实现了双面探测的功能。
搜索关键词: 一种 波段 探测器 制作方法
【主权项】:
一种双面红外/紫外双波段探测器制作方法,包括如下步骤:(1)通过MOCVD法在衬底上表面生长N型GaN层;(2)通过MOCVD法在N型GaN层上第一区域上依次生长i型GaN层以及P型GaN层;(3)通过溶胶-凝胶法在N型GaN层上第二区域上依次生长SiO2钝化层,多孔SO2隔热层,红外热吸收层以及PZT薄膜层;(5)通过MOCVD法在衬底下表面对应第二区域的位置生长GaN缓冲层;(6)通过溶胶-凝胶法在GaN缓冲层外依次生长SiO2钝化层,多孔SO2隔热层,红外热吸收层以及PZT薄膜层;(7)通过IPC刻蚀得到N型GaN层左侧台面,以及第一区域与第二区域之间的间隔;(8)通过电子束蒸发在N型GaN层左侧台面上下沉积In/ Au合金,在P型GaN层沉积Ni/Au合金;(9)通过IPC刻蚀得到上部以及下部红外热吸收层左侧台面;(10)通过电子束蒸发在上部以及下部红外热吸收层左侧台面沉积下电极;(11)通过电子束蒸发在上部以及下部PZT薄膜层沉积上电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于张清,未经张清许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710185061.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top