[发明专利]具有用于在囊封体中形成开口的延伸结构的封装装置有效
| 申请号: | 201710176961.1 | 申请日: | 2017-03-22 |
| 公开(公告)号: | CN107230643B | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
| 发明(设计)人: | 列奥·M·希金斯III | 申请(专利权)人: | 恩智浦美国有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/31 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 纪雯 |
| 地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 一种封装装置包括位于所述封装装置的主侧面处的延伸结构。所述延伸结构限定包括所述主侧面上的囊封材料的外部区域,以及其中在所述主侧面处的所述装置的一部分上无囊封体的内部区域。所述延伸结构防止囊封体在囊封过程期间进入所述内部区域中。 | ||
| 搜索关键词: | 具有 用于 囊封体中 形成 开口 延伸 结构 封装 装置 | ||
【主权项】:
一种制造封装装置的方法,其特征在于,所述方法包括:形成具有引线框的总成,其中所述形成所述总成包括:将装置附接到到所述引线框,其中所述装置包括位于所述装置的第一侧处的第一区域;将所述装置的外端电耦合到所述引线框的引线;其中在所述形成之后,所述总成包括延伸结构,所述延伸结构包围包围区域,所述包围区域包括所述装置的所述第一区域;将所述总成囊封在囊封体中,其中所述囊封包括:在模制结构中将囊封体应用于所述总成,其中所述模制结构包括具有第一表面的壁,所述第一表面在所述应用囊封体期间面向所述引线框的第一侧,所述壁的所述第一表面包括平坦表面部分,其中在所述应用所述囊封体期间,所述延伸结构与所述平坦表面部分接触,使得防止囊封体到达由所述延伸结构限定的所述平坦表面部分的内部部分,且囊封体接触位于所述延伸结构外部的所述平坦表面部分的外部部分,其中作为所述应用囊封体的结果,囊封体不位于第一区域且囊封体位于所述引线框的所述第一侧上的所述引线框的至少一部分与所述平坦表面部分的所述外部部分之间;其中所述封装装置包括所述延伸结构、所述引线框的至少一部分、所述装置和所述囊封体的至少一部分。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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