[发明专利]用于检测材料和装配件中的裂缝、缺陷或泄漏路径的射线照像的方法和装置有效
| 申请号： | 201710127052.9 | 申请日： | 2017-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN107153073B | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | K·O·高 | 申请（专利权）人： | 波音公司 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00;G01M3/20 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐东升;张颖 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了用于测试材料和装配件的空隙、裂缝或其他缺陷的示例性系统和方法。用于测试零件的一种示例性系统包括被配置为容纳零件的腔室，以及被连接到腔室的真空源。示例性系统也包括流体源，该流体源被连接到所述腔室并且被配置为向所述腔室提供放射性或同位素标记的流体。此外，示例性系统包括检测器，所述检测器被配置为检测零件中的放射性或同位素标记的流体的存在或不存在。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 材料 装配 中的 裂缝 缺陷 泄漏 路径 射线 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测试零件的方法，其包括：在压力(302)下将所述零件暴露到放射性或同位素标记的流体；以及在压力(304)下将所述零件暴露到所述放射性或同位素标记的流体之后，检测在所述零件(308)中所夹带的放射性或所述同位素标记的流体的存在或不存在。
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