[发明专利]用于检测材料和装配件中的裂缝、缺陷或泄漏路径的射线照像的方法和装置

说明书

提供了用于测试材料和装配件的空隙、裂缝或其他缺陷的示例性系统和方法。用于测试零件的一种示例性系统包括被配置为容纳零件的腔室，以及被连接到腔室的真空源。示例性系统也包括流体源，该流体源被连接到所述腔室并且被配置为向所述腔室提供放射性或同位素标记的流体。此外，示例性系统包括检测器，所述检测器被配置为检测零件中的放射性或同位素标记的流体的存在或不存在。

技术领域

本公开总体涉及用于检查材料和装配件的射线照像的系统和方法，并且更具体地涉及用于检测材料和装配件中的空隙、裂缝或其他缺陷的射线照像系统和方法。

背景技术

证明测试是一项无损测试技术，其用于验证零件、组件或装配件适于经受其中所述零件、组件或装配件被设计以运转的状况。以示例的方式，证明测试可以包括使零件经受零件的最大设计荷载的两倍并且观察零件是否以任何方式被损坏。许多行业中的制造商使用证明测试作为在允许零件经过“检查”且投入使用之前筛选零件的制造异常的方式。类似地，证明测试也可以被用于验证老旧零件仍然适当运行且适合于额外服务。

在一些示例中，零件可能“经过”证明测试，不过还是包括一个或多个潜在缺陷。例如，证明测试不会检测可以使零件不能维持特定设计荷载的不一致性。这类潜在缺陷可以表现为不会通过观看零件的表面而被观察到的内部空隙、裂缝或其他缺陷的形式。进一步地，潜在缺陷可能不能通过使用x射线或超声检查被检测到。例如，由于零件的几何构型或可变密度，x射线检查可能不能够检测或揭示零件中的裂缝。附加地，x射线检查可能不能够检测被定向为正交于x射线检测器阵列的裂缝。作为另一示例，几何构型/材料的不均匀性或潜在缺陷可能产生附加的回声或阴影，使得超声或x射线数据进行分析是昂贵的并且使不一致性/缺陷的检测变得困难。

发明内容

在一个示例中，提供了一种用于测试零件的方法。该方法包括：在压力下将零件暴露到放射性或同位素标记的流体；以及在压力下将零件暴露到放射性或同位素标记的流体之后，检测在零件中所夹带的放射性或同位素标记的流体的存在或不存在。

在另一示例中，提供了一种用于测试零件的系统。该系统包括腔室，其被配置为容纳零件。所述系统进一步包括被连接到腔室的真空源。所述系统也包括流体源，该流体源被连接到腔室并且被配置为向腔室提供放射性或同位素标记的流体。附加地，所述系统包括检测器，该检测器被配置为检测在零件中的放射性或同位素标记的流体的存在或不存在。

在又一示例中，提供了一种控制器。所述控制器包括处理器和计算机可读介质，该计算机可读介质具有存储在其中的指令，该指令是可执行的以使控制器执行功能。所述功能包括：使真空源降低腔室中的压力，其中零件位于腔室中。所述功能也包括：使被连接到腔室的流体源向腔室提供放射性或同位素标记的流体。所述功能进一步包括使流体回收容器从腔室移除放射性或同位素标记的流体。并且所述功能包括：使检测器检测在零件中的放射性或同位素标记的流体的存在或不存在。

已经被讨论的特征、功能和优点可以在各种示例中被独立地实现或可以在其它示例中被组合。参考下面的描述和附图可见示例的进一步的细节。

附图说明

所附权利要求中提出了示例性示例的被确信具有新颖性特性的特征。然而，当结合附图阅读时，通过参照本公开的示例性示例的下列详细说明将最好地理解示例性示例以及使用的优选模式、进一步的目的和其描述，其中：

图1是根据本公开的示例性系统的示意图。

图2是根据本公开的示例性控制器的示意图。

图3是根据本公开的用于测试零件的示例性方法的流程图。

图4是根据本公开的用于测试零件的另一示例性方法的流程图。

具体实施方式