[发明专利]用于检测材料和装配件中的裂缝、缺陷或泄漏路径的射线照像的方法和装置

权利要求书

1.一种用于测试零件的方法，其包括：

将所述零件插入腔室中；

通过将放射性或同位素标记的流体从流体源提供到所述腔室而在压力下将所述零件暴露到所述放射性或同位素标记的流体；

从所述腔室回收所述放射性或同位素标记的流体并将所述放射性或同位素标记的流体经由路径提供回所述流体源；以及

在压力下将所述零件暴露到所述放射性或同位素标记的流体并且从所述腔室回收所述放射性或同位素标记的流体之后，检测在所述零件中所夹带的放射性或所述同位素标记的流体的存在或不存在。

2.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

在压力下将所述零件暴露到所述放射性或同位素标记的流体之前，将所述零件暴露到真空。

3.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括使用x射线检测器检测在所述零件中所夹带的放射性或所述同位素标记的流体的存在或不存在。

4.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：提供所述零件中夹带的放射性或所述同位素标记的流体的存在或不存在的指示。

5.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：在检测到所述零件中夹带的所述放射性或同位素标记的流体存在之后，通过使用辅助检查技术来测试所述零件。

6.一种用于测试零件的系统，其包括：

腔室，其被配置为容纳所述零件；

真空源，其被连接到所述腔室；

流体源，其被连接到所述腔室并且被配置为向所述腔室提供放射性或同位素标记的流体；

流体回收容器，其被连接到所述腔室和所述流体源，所述流体回收容器被配置为从所述腔室移除所述放射性或同位素标记的流体并且经由路径将已移除的放射性或同位素标记的流体提供回所述流体源；以及

检测器，其被配置为检测所述零件中的放射性或所述同位素标记的流体的存在或不存在。

7.根据权利要求6所述的系统，其中所述检测器被连接到所述腔室并且被配置为在从所述腔室移除所述放射性或同位素标记的流体之后，检测所述零件中夹带的放射性或所述同位素标记的流体的存在或不存在。

8.根据权利要求6所述的系统，其中所述检测器连接到所述腔室。

9.根据权利要求6所述的系统，其中所述检测器包括x射线检测器。

10.根据权利要求9所述的系统，其中所述x射线检测器包括盖革计数器。

11.根据权利要求6所述的系统，其进一步包括指示器，所述指示器被配置为提供所述零件中的放射性或所述同位素标记的流体的存在或不存在的指示。

12.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

从所述腔室移除气体以在所述腔室中产生至少部分真空。

13.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

在随后的测试期间，使回收的所述放射性或同位素标记的流体被提供到所述腔室。

14.一种控制器，其包括：

处理器；以及

计算机可读介质，其具有存储在其中的指令，所述指令可执行以使所述控制器执行包括以下各项的功能：

使真空源降低腔室中的压力，其中零件位于所述腔室中，

使连接到所述腔室的流体源向所述腔室提供放射性或同位素标记的流体，

使流体回收容器从所述腔室移除所述放射性或同位素标记的流体并且经由路径将所述放射性或同位素标记的流体提供回所述流体源，以及

使检测器检测所述零件中的放射性或同位素标记的流体的存在或不存在。