[发明专利]一种安德烈夫反射结及其制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 201710106167.X 申请日: 2017-02-27
公开(公告)号: CN108511595B 公开(公告)日: 2019-10-25
发明(设计)人: 靳常青;赵国强;林朝镜;李永庆;邓正 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: H01L39/12 分类号: H01L39/12;H01L39/22;H01L39/24;H01F1/40
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人: 郭广迅;赵岩
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种安德烈夫反射结及其制备方法和应用,所述安德烈夫反射结包括铁磁半导体材料(Ba,K)(Zn,Mn)2As2的单晶片,以及分别沉积在所述单晶片两个表面上的普通金属层和超导材料层。所述铁磁半导体材料的化学式为(Ba1‑xKx)(Zn1‑yMny)2As2,0
搜索关键词: 反射 铁磁半导体材料 制备方法和应用 单晶片 助熔剂 自旋 超导材料层 电路系统 加热条件 金属层 单晶 沉积 制备 生长
【主权项】:
1.一种安德烈夫反射结,所述安德烈夫反射结包括铁磁半导体材料(Ba,K)(Zn,Mn)2As2的单晶片,以及分别沉积在所述单晶片两个表面上的普通金属层和超导材料层,其中,所述超导材料层的材料为铅、铋、锑、铌钛合金、铌锆合金、二硼化镁、钇钡铜氧和钡铁砷中的一种或多种。
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