[发明专利]检查装置和激光加工装置有效
| 申请号： | 201710098265.3 | 申请日： | 2017-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN107121433B | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 武田昇;森数洋司 | 申请（专利权）人： | 株式会社迪思科 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;于靖帅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供检查装置和激光加工装置，该检查装置能够以简单的结构对存在于由透明材料形成的被检查部件的裂纹进行检测。检查装置(14)包含：照明单元(16)，其配置在透明材料制部件的周缘，从侧面对透明材料制部件进行照明；拍摄单元(18)，其与透明材料制部件相对地配置，对照明单元(16)所照明的透明材料制部件进行拍摄；以及显示单元(20)，其对拍摄单元(18)所拍摄的图像进行显示。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 激光 加工 | ||
【主权项】：
一种检查装置，其中，该检查装置具有：照明单元，其配置在透明部件的周边，从侧面对该透明部件进行照明；拍摄单元，其与该透明部件相对地配置，对该照明单元所照明的该透明部件进行拍摄；以及显示单元，其对该拍摄单元所拍摄的拍摄图像进行显示。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社迪思科，未经株式会社迪思科许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710098265.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一步式免标记荧光快速检测汞离子的方法
- 下一篇：检查装置以及检查方法
