[发明专利]一种高频测试插座在审
| 申请号： | 201710083872.2 | 申请日： | 2017-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN106771409A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 蒋卫兵;王坚;刘育璋;戴云;刘健康 | 申请（专利权）人： | 苏州微缜电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市工业园区金鸡湖*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高频测试插座，具有测试座主体，所述测试座主体内设有高频探针，所述高频探针为两头具有弯曲结构，所述高频探针的一端与芯片接触，其另一端与PCB板接触，高频探针组装在测试座主体里，高频探针经过变形组装到测试座主体里，高频探针的一段与芯片接触，另一端与PCB接触，从而实现高频信号的传递；由于这种高频探针的结构有别于传统的探针，这种高频探针传输是通过弹簧丝传递的，与其它传统探针相比，减少了传输环节，因此具有稳定的容抗和感抗。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高频 测试 插座 | ||
【主权项】：
一种高频测试插座，其特征在于：具有测试座主体(2)，所述测试座主体(2)内设有高频探针(3)，所述高频探针(3)为两头具有弯曲结构，所述高频探针(3)的一端与芯片接触，其另一端与PCB板接触。
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