[发明专利]一种高频测试插座在审
| 申请号： | 201710083872.2 | 申请日： | 2017-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN106771409A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 蒋卫兵;王坚;刘育璋;戴云;刘健康 | 申请（专利权）人： | 苏州微缜电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市工业园区金鸡湖*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 高频 测试 插座 | ||
【权利要求书】：
1.一种高频测试插座，其特征在于：具有测试座主体(2)，所述测试座主体(2)内设有高频探针(3)，所述高频探针(3)为两头具有弯曲结构，所述高频探针(3)的一端与芯片接触，其另一端与PCB板接触。
2.根据权利要求2所述的一种高频测试插座，其特征在于：所述高频探针(3)由弹簧丝绕成。
3.根据权利要求2所述的一种高频测试插座，其特征在于：所述测试座主体(2)通过销子定位和螺丝固定在导向框(1)。
4.根据权利要求3所述的一种高频测试插座，其特征在于：所述测试座主体(2)的背面固定在PCB板上。
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