[发明专利]一种氧化镓基金属-氧化物半导体场效应晶体管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201710072915.7 申请日: 2017-02-16
公开(公告)号: CN106876466B 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 梁红伟;夏晓川 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 温福雪;侯明远
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明属于半导体器件制备技术领域,提供了一种氧化镓基金属‑氧化物半导体场效应晶体管及其制备方法。以半绝缘氧化镓单晶为基体,其表面依次为非掺杂氧化镓层、锡层和图形化锡层;未被图形化锡层覆盖的锡层表面为氧化物介质层,氧化物介质层与图形化锡层间形成开口,开口数量是成对的,开口区域小于图形化锡层区域;开口区域的表面依次为钛层和金层,分别作为源电极和漏电极;氧化物介质层表面依次为钛层和金层,作为栅电极。本发明提出了一种有效而简便的工艺制造技术,解决了高性能氧化镓基金属‑氧化物半导体场效应晶体管的制备难题,实现新型氧化镓基金属‑氧化物半导体场效应晶体管的研制。
搜索关键词: 一种 氧化 基金 氧化物 半导体 场效应 晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种氧化镓基金属‑氧化物半导体场效应晶体管,其特征在于,以半绝缘氧化镓单晶为基体,其表面依次为非掺杂氧化镓层、锡层和图形化锡层;未被图形化锡层覆盖的锡层表面为氧化物介质层,氧化物介质层与图形化锡层间形成开口,开口数量是成对的,开口区域小于图形化锡层区域;开口区域的表面依次为钛层和金层,分别作为源电极和漏电极;氧化物介质层表面依次为钛层和金层,作为栅电极;其中,锡层即为锡原子扩散轻掺杂氧化镓层,图形化锡层即为锡原子扩散重掺杂氧化镓层;所述的非掺杂氧化镓层的厚度为10nm~100μm;所述的锡层的厚度为1nm~1mm;所述的图形化锡层的厚度为1nm~1mm;所述的氧化物介质层的厚度为1nm~10μm;所述的钛层的厚度为1nm~10μm;所述的金层的厚度为1nm~10μm。
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